第5章 X射线粉末衍射实验技术概要1.ppt

18KW高频转靶X射线发生器 理学全自动衍射仪 MultiFlex 理学台式衍射仪MiniFlex 理学X射线定向晶面仪 理学转靶反射率测量装置RGXR 理学X射线形貌相影像板系统XRT-300 D8 ADVANCE元器件的模块化互换 2）光学器件的装卸不偏离光路 1）元器件本身的模块化设计 光路任意组合：元器件的互换一般无须对光！ 真正实现一台仪器的多功能化！ D8 ADVANCE 陶瓷X光管 新一代的陶瓷光管 4000 小时质保期 标准尺寸，可与其他任何厂家的标准尺寸光管互换，兼容性好 有各种靶、各种焦斑尺寸的陶瓷管 D8 ADVANCE闪烁计数器 超长寿命 免维修 低背底 YAP 闪烁计数器: 动态范围高达 1 x 107 cps 适合所有应用，特别是薄膜反射研究 独家所有技术 D8 ADVANCE 高低温原位研究 ? /? 测角仪 样品平放 测量过程中，样品始终不动 ----- 特别适合高低温等原位研究！ 高低温附件 互换非常方便 与主机的集成性好！ 样品台固定 D8 ADVANCE 薄膜反射研究 实际配置图 测量对象：多层膜及薄膜 ( 300-400 nm 厚以下) 功 能： 膜的厚度 膜及衬底的密度 表面及界面粗糙度 膜的次序 独家所有的刀边准直器平台 (KEC)可保证样品定位非常容易及入射光束的最佳准直。 推荐附件：G?bel 镜可提供高强度的平行光束 D8 ADVANCE 周期薄膜分析： AB两层 25个周期 D8 ADVANCE 高低温薄膜分析附件 独家所有的薄膜原位分析： 在高低温原位状态下动态研究薄膜样品的信息： 1、高温薄膜分析附件：室温到800度 2、中低温薄膜分析附件：-180度到450度。--布鲁克独特技术---- 薄膜反射平台 D8衍射仪 -- 原始数据直接检索 可解决常规检索软件很难或不能解决的问题： 多物相，如5种，甚至十几种物相的混合样品（衍射峰严重重叠） 低吸收系数样品 择优取向样品，颗粒效应样品 微量相 ----- 布鲁克独家所有技术！----- 基本参数法线形分析 W G Y(2q) = (W ′ G) ′ S 特 点 无标样的镶嵌块尺寸（晶粒大小） / 微观应力分析 自动校正几何参数对线形的影响 ----- 布鲁克独家所有技术！----- S ? ? ? ? ? D8衍射仪 -- DIFFRACplus 衍射峰位不规则漂移的调整(I) 点阵参数各向异性变化 ----- 布鲁克独家所有技术！----- Bede D1-system Research Diffractometer Bede Scientific Instrument Ltd. D1-system research diffractometer powerful flexible adaptable easy to use dual source, 150 mm D1 system features dual sources Bede Microsource? high power 2kW sealed tube wide range of beam conditioning optics for both high-intensity and high-resolution application computer controlled optical alignment system for user to ensure system optimization when required versatile cradle for thin-film sample holder plus complete set of powder diffraction attachments triple axis capability on detector arm EDRc scintillation detector complete analysis software package dual source configuration D1 system schematic 2kW sealed tube sample stage detector arm Microsource? optics stage for 2kW sealed tube many possible optics configurations – optimise for any experiment computer controlled – easy to change between configurations axes for accurate, easy alignment