第二章测试装置的基本特性.ppt

第七节 负载效应 在实际测量工作中，测量系统和被测对象之间/测量系统内部各环节之间互相联接必然因此产生相互作用。接入的测量装置，构成被测对象的负载；后接环节总是成为前面环节的负载，并对前面环节的工作状况产生影响。两者总是存在能量交换和相互影响的。 一、负载效应 前面曾在假设相联接环节之间没有能量交换的基础上导出了环节串、并联后所形成的系统的传递函数表达式。然而这种只有信息传递而没有能量交换的联接，在实际系统中甚少遇到。只有用不接触的辐射源信息探测器，如可见光和红外探测器或其他射线探测器，才可算是这类联接。当一个装置联接到另一个装置上，并发生能量交换时，就会发生两种现象： 1）前装置的联接处甚至整个装置的状态和输出都将发生变化。 2）两个装置共同形成一个新的整体，某装置由于后接另一装置而产 生的种种现象，称为负载效应。 下面举一些例子来说明负载效应的严重后果。 集成电路芯片温度虽高但功耗很小，约几十毫瓦，相当于一个小功率的热源。若用一个带探针的温度计去测其结点的工作温度，而且整个电路的工作温度都会下降。 在一个单自由度振动系统的质量块m上联接一个质量为mf的传感器，致使参与 振动的质量成为m+mf，从而导致系统的固有频率的下降。 简单的直流电路。 电阻器R2 电压降U0= 。 在R2两端并联一个内阻为Rm的电压表。 由于Rm的接入，R2和Rm两端的电压降U变为 U= 式中，由于 = + ，则有 显然，由于接入测量电表，被测系统（原电路）状态及被测量（R2的电压降）都发生了变化。原来的电压降为U0，接入电表后，变为U， U≠ U0 ，两者的差值随Rm的增大而减小。 为了定量的说明这种负载效应的影响程度， 令R1 =100kΩ,R2 =Rm=150kΩ,E=150V, 可以得到U0=90V,而U=64.3V，误差竟然达到28.63%。 若Rm改为1M，其余不变，则U=84.9V，误差为5.7%。此例充分说明了负载效应对测量结果影响有时是很大的。 二、减轻负载效应的措施 减轻负载效应所造成的影响，需要根据具体的环节、装置来具体分析而后采取措施。对于电压输出的环节，减轻负载效应的办法有： 1）提高后续环节（负载）的输入阻抗。 2）在原来两个相联接的环节之中，插入高输入阻抗、低输出阻抗的放大器（一方面减小从前面环节吸取能量，另一方面在承受后一环节（负载）后又能减小电压输出的变化，从而减轻总的负载效应）。 3）使用反馈或零点测量原理，使后面环节几乎不从前环节吸取能量。例如用电位差计测量电压等。 在测试工作中，应当建立系统整体的概念，充分考虑各种装置、环节联接时可能产生的影响。 测量装置接入后就成为被测对象的负载，将会引起测量误差。两环节的联接，后环节将成为前环节的负载，产生相应的负载效应。 在选择成品传感器时，必须仔细考虑传感器对被测对象的负载效应。 在组成测试系统时，要考虑各组成环节之间联接时的负载效应，尽可能减小负载效应的影响。 对于成套仪器系统来说，各组成部分之间相互影响，仪器生产的厂家应该已有充分的考虑，使用者只需考虑传感器对被测对象所产生的负载效应。 第八节 测量装置的抗干扰 一个测试系统抗干扰能力的大小在很大程度上决定了该系统的可靠性，是测量系统重要特性之一。 一、 测量装置的干扰源 干扰窜入测量装置有三条主要途径： 1）电磁干扰。 干扰以电磁波辐射的方式经空间窜入测量装置。 2）信道干扰。信号在传输过程中，通道中各元器件产生的噪声或非线性畸变所造成的干扰。 3）电源干扰。这是由于电源波动、市电电网干扰信号的窜入以及装置供电电源电路内阻引起各单元电路相互耦合造成的干扰。 信道干扰是测量装置内部的干扰，可以在设计时选用低噪声的元器件，印刷电路板设计时元件合理排放等方式来增强信道的抗干扰性。  良好的屏蔽及正确的接地可除去大部分的电 磁波干扰。 外部电网对装置的干扰以及装置内部通过电源内阻相互耦合造成的干扰对装置的影响最大。使用交流稳压器、隔离稳压器可减小供电电源波动的影响。 二、供电系统干扰及其抗干扰 1．电网电源噪声