实验三组合逻辑电路的功能测试.pptVIP

实验三  组合逻辑电路的 分析方法与功能测试 一. 实验目的 1.掌握组合逻辑电路的分析方法 2掌握组合逻辑电路的功能测试方法 3.验证半加器和全加器的逻辑功能 * * 二.实验内容 1.组合逻辑电路功能测试 （1）用两片CC4011组成图示逻辑电路。 ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ Y1 Y2 A B C ﹠ （2）图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管显示。 （3）按下表要求，改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。 （4）将运算结果与实验比较。 输 入 输 出 A B C Y1 Y2 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 2. 测试用异或门（CC4030）和与非门组成半加器的逻辑功能 （1） 用CC4030和CC4011接成图示电路。 ﹠ ﹠ A B =1 Y Z （2）按下表要求改变A、B 状态并填表。 输 入 输 出 A B Y Z （3）将运算结果与实验比较。 3.测试全加器的逻辑功能 （1）写出图示电路的逻辑表达式。 Ai Bi Ci-1 Si Ci ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ ﹠ Y X1 X2 X3 （2）根据逻辑表达式列真值表并画出Si和Ci的卡诺图。 （3）填写下表中各点状态。 全加器各点状态表 Ai Bi Ci Y X1 X2 X3 Si Ci 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 （4）选择与非门连接电路并进行测试，检查测试结果，与上表进行比较看逻辑功能是否一致。 4.测试用异或门、与非门组成的全加器的逻辑功能 （1）画出用异或门、与非组成的全加器的逻辑电路图，写出逻辑表达式。 （2）按画出的电路图选择逻辑门连线. （3）当输入Ai、Bi、Ci-1为下列情况时，用万用表测量Si和Ci的电位并将其转为逻辑状态填入下表中。 Ai Bi Ci-1 Si Ci 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 三.实验报告 （1）整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。 （2）总结组合逻辑电路的分析方法。 （3）写出心得体会。