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μ子成像中心面伪影成因及其校正方法研究

第23卷 第 3 期 CT理论与应用研究 Vol.23, No.3 2014年5月(385-394) CT Theory and Applications May, 2014 于百蕙, 赵自然, 王学武, 等. μ 子成像中心面伪影成因及其校正方法研究[J]. CT 理论与应用研究, 2014, 23(3): 385-394. Yu BH, Zhao ZR, Wang XW, et al. Cause analysis and correction method of the center layer artifact in cosmic-ray muon radiography[J]. CT Theory and Applications, 2014, 23(3): 385-394. μ 子成像中心面伪影成因及其校正方法研究   于百蕙,赵自然,王学武,吴笃蕃,以恒冠,曾志,程建平 (清华大学工程物理系,北京 100084) 摘要:PoCA算法和MLSD算法是宇宙线 μ 子成像中常用的两种算法,其成像结果在中心面普遍存 在分布均匀、灰度值较小的层状伪影。本文通过分析 μ 子成像的物理机制和重建算法原理,研 究上述中心面伪影,指出其产生原因是成像空间中存在本底物质,并在此基础上提出一种校正 方法,模拟实验表明该方法能在不影响μ 子三维重建的前提下有效地消除中心面伪影。 关键词:μ 子成像;中心面伪影;PoCA算法;MLSD算法 文章编号:1004-4140(2014)03-0385-10 中图分类号:TP391.41;TP301.6 文献标志码:A 宇宙线 μ 子具有能量高,穿透力强,对高 Z 物质敏感等特点,特别适合对重核材料进 行无损检测成像[1-4]。重建算法是宇宙线μ 子成像研究的一大重点。目前常见的重建算法主 [5-6]和最大 要有 Schultz 等提出的径迹重建算法(the Point of Closest Approach,PoCA) 似然算法(Maximum Likelihood Scattering and Displacement,MLSD)[7-8]等。在用 PoCA 算法和 MLSD 算法对模拟数据进行重建时,经常会在 z 方向中心层出现分布均匀、灰度值较 小的层状伪影。这主要是由于模拟空间中的本底物质会使 μ 子发生角度非常小的散射,被 误认为是目标物质所造成的散射,从而重建出伪影。由粒子物理的知识可知,带电粒子在 均匀物质中发生多次小角度散射,如果用一次散射的折线模型代替多次库伦散射的曲线模 [9] 型,则发生偏转的折点正好位于入射点和出射点z 坐标的中心处 。 本文首次提出成像空间中存在本底物质将导致 μ 子三维成像结果出现中心面伪影这一 问题,并且从 μ 子成像的物理原理和重建算法角度分析了产生该伪影的原因,同时发展出 一种有效的中心面伪影校正方法。 1 成像算法介绍 1.1 PoCA 算法 PoCA 算法采用单层均质模型,如图 1(a)所示。假设 μ 子穿过物质,发生多次库伦散 射的偏转是由一次散射事件贡献的,散射点是入射径迹和出射径迹的交点,μ 子在物质中的 路径为过散射点、平分入射径迹和出射径迹的直线。该算法将偏转角度的平方值赋给散射 点所在体素,然后通过一定的公式计算得到每个体素的散射密度。因为散射密度与物质的 [5] 原子序数相关,所以我们最终能得到物质的原子序数信息。PoCA 算法的计算公式如下 : 收稿日期:2013-12-31。 基金项目:国家自然科学基金;国家自然科学基金优秀青年基金。 386

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