CPK、CMK和不合格率资料.ppt

南京聚隆工程塑料有限公司 南京聚隆工程塑料有限公司 CPK、CMK和不合格率 过程稳定性的研究和表征 一、数据收集 要有明确的分组原则 每组的数据个数在3~5个为宜 组数要为50组为宜，最少不能少于25个。 总数据点最好不能少于100个。 二、数据的整理和判稳 控制图法 正态分布图法 X-R控制图 计算子组平均值X和极差R 计算平均值X的二次平均值X和极差的平均值R 计算X控制图的上下限 X-R控制图 计算R控制图的上下限 X-R控制图 参数的选择 ——根据子组 数据数量 选择 做图 X控制图 控制图法 正态分布图法 R控制图 控制图法 正态分布图法 数据的整理和判稳 正态分布图法 检查最小值Xmin和最大值Xmax 确定分组数k 确定组距h=（Xmax-Xmin）/k 组距取整 确定分组界限值 Xmin-1/2数据分辨率 正态分布图法 计算数据频数N 做正态分布图（直方图） 正态分布图案例 Xmin=10.110 Xmax=10.893 数据总数15*5=75，分组数为k=7 组距h=（10.893-10.110）/7 =0.1119≈0.112 确定分组界限值 10.110-1/2*0.001=10.1095 10.1095+0.112=10.2215 10.2215+0.112=10.3335 。。。。。 正态分布图案例 计算频数N 做正态分布图 正态分布图案例 三、确定数据 除去异常点第8组 重新做图 正态分布图的确定 Xmin=10.544 Xmax=10.893 数据总数14*5=70，分组数为k=7 组距h=（10.893-10.544）/7 =0.0499≈0.050 确定分组界限值 10.544-1/2*0.001=10.5435 10.5435+0.050=10.5935 10.5935+0.050=10.6435 。。。。。 正态分布图的确定 计算频数N 做正态分布图 正态分布图的确定 四、计算统计变量 计算样本数据的平均值 控制图法：Xp=X 正态分布图法：Xp=（∑X）/n=10.736 计算样本数据的标准偏差 控制图法：δ=R/d2=0.09476 正态分布图法： 四、计算统计变量 对于存在双向公差的数据： 确定公差范围T=TU-TL=11.100-10.100=1.000 确定公差中心M=（TU+TL）/2=10.600 确定中心偏移量ε=|M-Xp|=0.136 确定相对偏移量K=2 ×ε/T=0.272=27.2% 五、过程能力指数 5.1、计算CP、CPK（国标） 过程能力指数：产品的公差范围（T）和过程能力（B）之比。具有多样性。 CP：无偏倚过程能力指数（理论最高过程能力） CP=T/B=（TU-TL）/6δ=1.76 CPK：有偏倚过程能力指数（实际过程能力） CPK=（T-2 ε）/ 6δ=（1-K）CP =（1-0.272）*1.76=1.28 5.2、计算单侧过程能力CPU、CPL 上限过程能力：CPU=（TU-Xp）/3 δ=1.28 下限过程能力：CPL=（Xp-TL）/3 δ=2.24 QS9000规定CPK=Min（CPU，CPL）=1.28 ★QS和国标的方法其实是一样的。 对于只有单向公差的过程，CPK=CPU或CPL ★单向公差过程不存在CP 5.3、CPK的影响因素 5.4、CPK的定级 CPK≥1.67 特级 1.33≤ CPK ≥1.67 一级 1.00≤ CPK ≥1.33 二级 0.67≤ CPK ≥1.00 三级 CPK ≥0.67 四级 5.5、CPK中相对偏移量K的调整 5.6、减小过程易变性参数δ是提高  CPK的最终之路 过程的易变性可以表征为： δ2表观 = δ2真实 +δ2机 =（δ2人 +δ2机 +δ2料 +δ2法 +δ2环 ）+δ2测 六、设备能力指数 （临界机器能力指数） CMK CMK：研究和控制设备引起的过程变差δ2机 。 计算方式和CPK一样。 取样一般为密集取样，最大程度上控