无线圈去磁检测技术降低待机功耗.pdfVIP

2007．12 Po ManagementTest l 缆 磁糗 搂 降 褥褫 ■ 安森美半导体亚太区电源管理产品经理 蒋家亮 1 趋势与挑战 随着全球业界对电源效率的要求越来越高，包 括ATX电源、消费类电子产品等在内的电源应用 在工作与待机模式的效率面对日益严峻的挑战，以 应对各国不同的节能要求。所以我们要创新设计，特 别是改善应用内的电源系统的设计，以实现各种节 图 1 能目标。 另外，传统电源设计由于传统拓扑 (如同定 PWM开关频率)的局限性，难以满足上述要求，而且 高效电路比较昂贵，传统PWM控制器设计对应于 传统技术，对低待机能耗没有良好的脉冲模式控制 技术等。 NCP1337器件由两大关键元素组成，能在待机 图 2 与工作模式下实现卓越的高效表现 传统的零电压检测方法 过去，在待机工作模式下，传统的PWM控制器 NCP1337由于采用了无线圈去磁检测技术，可 (如UC384X、TLXXX IC)不考虑待机的具体要求。 轻易减少外部元件数，又不影响谷底检测的准确性。 但在NCP1337，用软跳周期技术来控制峰值电流并 为了得益于准谐振工作模式，最佳点应对应于 去除一些开关脉冲．从而控制开关损耗，进而实现空 漏极电压的“谷点”，同时这也对应于总漏极电容的 载、轻载状态下的卓越高效性能。并能在变压器进入 最低能量存储点。 跳周期工作时有效去除噪声。 安森美半导体的特定功率MOSFET驱动器．混 NCP1337在工作状态下．有良好的准谐振 合MOS与双极机制检测负门电流，使负门电流不通 (QR)，在电源负载上效率非常高。不仅能降低开关 过底端传导，而通过正 Vcc电压的路径传导。这样， 损耗，还能通过与输出整流器旺配的同步整流技术 检测到的电流会从v电压轨通过很简单的补偿机 大幅减少次级损耗。由于NCP1337在QR模式_T 制流向门极，形成了有源负电压钳位。因此，负门电 作，因此变压器绕组能自然地驱动MOSFET 此外， 流能转化为便于处理的正电流。随后，简单的比较 NCP1337还可降低开关周期内高频电流尖峰信号 器可检测零电流门极交叉，进而提供“谷点”信号。 造成的 EMI 图3显示无线圈去磁检测功能的电路图。功率 MOSFET驱动器由混合推拉输出电路组成 (顶部 2 实施无线圈去磁检测(so)(ylesS ) PMOS加底部NMOS，并行于PNP)。Q1 NMOS在消 隐窗体后禁用。其余OFF反激序列中仅有Q2 PNP 为了减少元件数量并实现高能效解决方案，无 保持ON状态。该技术能避免功率MOS Toff后振铃 线圈去磁检测技术(针对QR检测)是NCP1337技 的影响。假定底端FET的Rdson为l0n，lOmA的 术实施的关键．南此很容易减少外部元件及检测时 门电流会产生lOOmV的信号。这是采用CMOS结 无需独立的引脚。以下图l、2是传统的检测方法： 构的典型MOSFET驱动器的典型行为。 电蚤．i鲤i ELECTR0NIC TEST 2007．12 不需要任何辅