east 软x 射线光谱仪绝对强度标定 - 核聚变与等离子体物理.pdfVIP

第33 卷 第4 期 核 聚 变 与 等 离 子 体 物 理 Vol.33, No.4 2 0 1 3 年 12 月 Nuclear Fusion and Plasma Physics Dec. 2013 文章编号：0254−6086(2013)04−0312−08 EAST 软 X 射线光谱仪绝对强度标定 1 1 1 1 1 张洪明 ，沈永才，符 佳 ，李颖颖，熊言威， 王福地1 1 1 2, 3 1 ，吕 波 ，吴振伟，石跃江 ，万宝年 (1. 中国科学院等离子体物理研究所，合肥 230031 ；2. 中国科技大学，合肥 230026 ； 3. WCI Center for Fusion Theory, National Fusion Research Institute Daejeon, Korea) 摘 要：采用基于等离子体轫致辐射的方法，完成了EAST 软X 射线光谱仪的绝对强度标定。首先利用软X 射 线光谱仪测量了EAST 等离子体的轫致辐射的强度，然后基于等离子体电子温度、电子密度、有效电荷数的剖面， 计算了等离子体轫致辐射的功率密度剖面。并将其沿软X 射线光谱仪的观测弦进行积分，得到了弦积分的轫致辐射 强度。最后通过将轫致辐射强度的测量值和计算值进行对比，得到了软X 射线光谱仪在 10~50Å 范围内的绝对强度 标定系数。通过比较不同放电条件下的绝对强度标定系数，发现实验中标定系数变化不大，相对稳定。然后利用标 定过的软X 射线光谱仪测量CⅥ 33.73Å 谱线的辐射强度，并通过非圆截面反演，初步获得了CⅥ 33.73Å 绝对辐 射强度的径向分布剖面。研究表明，利用轫致辐射对软X 射线光谱仪的标定是可行可靠的。获得的杂质辐射绝对强 度可结合杂质输运程序进行杂质输运研究。 关键词：软X 射线光谱仪；绝对强度标定；轫致辐射；杂质辐射强度 中图分类号：TL816+ .1 文献标识码：A 1 引言 转移到托卡马克上。在托卡马克上安装完成后还要 托卡马克等离子体杂质行为研究对于降低等 再次进行位置标定。因此标定过程相对复杂。此外， 离子体的辐射损失，提高约束性能，延长壁寿命等 同步辐射光源发光面积较小，无法充满谱仪观测的 有极为重要的作用[1] 。杂质行为研究主要方法之一 视场范围，因此无法一次检验完光栅上所有区域。 是测量和分析杂质的线辐射光谱。由于等离子体温 因此，用同步辐射光源进行绝对强度标定有一定的 度较高，芯部杂质线辐射主要集中在软X射线到极 局限性。由于现在聚变装置多采用壁处理来降低杂 紫外波段(10Å到 500Å)和真空紫外(500Å到2000Å) 质，因此分支比法可以利用的杂质辐射的谱线对数 [2, 3] 波段。测量杂质浓度是研究杂质行为的一个重要方 目很少，而且谱线强度通常很弱，很难辨认 。 面，利用光谱诊断系统测量杂质的浓度首先要对系 近几年发展了一种利用等离子体自身的轫致 统进行绝对强度标定[2, 3] 。 辐射对光谱诊断系统进行绝对强度标定方法[2~5] 。 由于受到软X射线光源的限制，此波段的诊断 这种标定方法可以克服前面两种方法的缺点，实现 系统的绝对强度标定一直比较困难。目前有两种常 更为精确的原位标定。本文参考这种方