计量芯片原理(钜泉光电)0903 v0.1.ppt

计量芯片原理 --兼谈国标对芯片的要求  钜泉光电科技mxzhang@ 2009-03 试图解释： 计量原理正确吗？ 能量、功率、有效值的算法正确性 国标影响量怎样满足？ 谐波对计量的要求 频率、电压对计量的影响 温度对计量的影响 误差为什么会跳动？ 算法对误差（CF）跳动的影响 电表一点校正后，精度还能提升吗？ 校正 功率、有效值补偿 温度补偿 有效值精度为什么不如电能精度？ 算法推导（I）：基波功率 功率算法流程 算法推导（II）：全波功率 动态范围精度 ADC的有效位数 ADC的有效位数（或者SINAD）是整个芯片计量的源头 目前集成芯片基本采用sigma-delta ADC 模拟部分+数字信号处理，容易做到16bit以上的ADC （google: sigma delta) 对外围要求低，简单的一阶RC滤波即可达到抗混叠效果 计量算法的截位 带宽谐波影响量 采样频率（fs）越快，则带宽越宽 带宽一般定义为fs/2，只要Finfs/2，理论上可以测量； 假设考虑30次谐波，则带宽需要30*50=1.5kHz，fs3kHz 国标对谐波性能的要求 5次谐波相对于基波的含量： 电压10%U1，电流40%I1 P=U1*I1+U5*I5=1.04P1; 影响量0.1%时，U5*I5*ERR/(1.04P1)0.1%，U5*I5的精度2.5%即可满足 频率电压影响量 频率影响量（频率变化45～65Hz） 从算法的推导上看，频率对精度应该无任何影响 但数字部分不对称，有滤波器做时序补偿时，则可能会影响精度（滤波器不同频率的相位会略有差异） 电压影响量（电压变化70%～130%） 从算法的推导上看，无任何影响 需要保证芯片的VCC/AVCC不受影响 需要保证130%不能超过芯片规定的量程 温度影响量 温度影响量是芯片及外围的温度系数共同作用的结果 两者的影响相同，则影响量很大；反之，则影响很小 芯片的温度系数主要影响VREF，进而使ADC采到的数据发生改变 1mv的变化对精度的影响为0.08%（2.5v VREF) 30ppm时，-40~80摄氏度VREF变化9mV，影响误差的变化为0.7%；相当于每度变化0.006% 国标要求为每度0.03%（0.5s） 潜动启动 国标的规定是以电流为判据的 大部分芯片均采用功率为判据 小信号时功率的精度比有效值精度好 接近90度时会造成误判（三相三线 0.5L） 部分芯片会采用功率+电流双判据 潜动启动的本质 潜动和启动其实是对芯片的线性度的要求 目前很多电力局提出“潜动电流”，对线性度要求更高 误差的跳动 CF的输出从理论上存在跳动 主要是U*I*cos(2wt)的干扰 滤波器对其衰减越大，则跳动越小 时间累计的越长,则跳动越小（输入信号越大，则CF频率越快，跳动会越大） 采样率fs越大，则跳动会越小，因为其分辨率会越好 矛盾：CF的及时响应vs跳动 滤波器对2wt频率成分衰减越大，跳动会越小；但阶跃响应的上升时间会越慢（滤波器阶数相同的情况） 部分芯片采用先累计一段时间电能的方式，相当于一个很大的平均值滤波器，跳动会更小；但在断电时可能造成误差。（大电流时，电流关闭后，CF还会继续发） 校正 芯片与外围一起构成测量系统；由于外围和芯片的初始精度无法保证，因而需要校正 阻性校正，校正增益 电阻的误差，VREF的不一致会导致增益误差 0.5L校正，校正相位 虽然芯片内部保证电压、电流的相位，但外围不可能完全一致，特别是互感器、电容等的影响 如果传感器线性好，板级噪声低，则0.5级、1级电表只需在100%Ib 阻性和0.5L校好即可 功率精度补偿（I） 分段补偿：增益分段相位分段 在大量程电表上，如果传感器或其他外围的线性不够好时，则可以使用分段的增益补偿 电流互感器不能保证整个动态范围角差完全一致，电流饱和/或者电流特别小时都有很大的影响 负载大范围变化对分段的冲击 上行点和下行点分开，减小分段点误差的跳动 功率精度补偿（II） OFFSET的影响 OFFSET总是存在的，只要同频的信号相乘，即可产生DC成分，进而影响到P 高通滤波器不能全部滤除功率的OFFSET OFFSET的来源 CROSSTALK:电压通道对电流通道的影响， 50Hz的工频干扰或其他噪声 OFFSET可以被校正 一般而言，同一块表做好后，OFFSET是一个固定量，不会随电流的反向而改变，因而可以从功率上直接减去。 算法推导（III）：有效值 电压有效值流程 有效值补偿 有效值精度功率精度，为什么？ 常规思路，电压、电流有0.1%的err，会导致功率0.2%的err 与算法相关；功率为电压、电流相乘，有效值为自乘，相关性上后者要大（即同频的信号相乘），噪声也会大 OFFSET能否直