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XRD测定炭素材料的石墨化度_钱崇梁
第 32 卷第 3 期 中南工业大学学报 Vol . 32 No . 3
2 0 0 1 年 6 月 J . CENT. SOUTH UNIV . TECHNOL . June 2 0 0 1
XRD 测定炭素材料的石墨化度
钱崇梁 ,周桂芝 ,黄启忠
( 中南大学 粉末冶金国家重点实验室 ,湖南 长沙 4 10083)
( )
摘要 : 研究了用 X 射线衍射 XRD 测定炭素材料石墨化度的原理和方法 ,指出其本质是精确测定炭石墨六方晶格
的 C 轴点阵常数值 ,为此 ,用高纯硅粉作内标以校准测量误差. 为提高测量精度 ,选用高角度的 C(004) - Si (311) 衍射
线对 ;当试样的石墨化度较低时 ,因 C 衍射线强度太小 ,选用 C - Si 线对. 将它们分别进行 K , K 双线分
( ) ( ) ( ) α α
004 002 331 1 2
离处理后 , 以 K 峰的半高宽之中心点定峰位并据此计算石墨化度. 实验结果表明:在碳/ 碳复合材料中 , 由于采用
α
1
了多种原材料 ,经高温热处理后形成石墨化的程度不尽相同 ,即试样中含有不同石墨化度的组分 ,致使炭石墨的衍
射线呈现明显的不对称性 ,此时必须进行多重峰分离处理 ,分离出的子峰通常无需再进行双线分离 ,即可直接用来
计算各组分的石墨化度 ; 由各子峰的积分强度可计算不同石墨化度组分的相对含量 , 以此进行权重计算所得的平
均石墨化度更合理地反映了试样内部石墨化度的实际情况.
关键词 : XRD ; 石墨化度 ; 多重峰分离 ; 内标
( )
中图分类号 : O613 . 71 文献标识码 : A 文章编号 : 2001
理想石墨的晶体结构为密排六方 ,点阵常数 a 就是非晶炭逐步晶化以及由不完整结晶逐步向高结
= 0 . 246 1 nm , c = 0 . 670 8 nm , 即使是天然石墨 ,其 晶度转变的过程. 所谓石墨化度 ,即碳原子形成密排
晶体结构中也存在很多缺陷 , 点阵常数与理想石墨 六方石墨晶体结构的程度 ,其晶格尺寸愈接近理想
的相比也有差别. 实际应用的炭素材料大多是人造 石墨的点阵参数 ,石墨化度就愈高. 可见 ,碳晶体的
的 ,其石墨化程度受制造工艺和原材料的影响很大 , 点阵参数可直接用来表征其石墨化度. 富兰克林推
尤其是作航空刹车用的炭/ 炭复合材料 ,必须使石墨 导出人造石墨材料的晶格常数与石墨化度的关系
式[ 1] :
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