μ子寿命测量 实验者：孙成励、吴海腾 报告人：孙成励 2012年6月15日 .pptVIP

μ子寿命测量;实验装置;μ子平均寿命： 2.19703±0.00004 μs;图源：Muon Physics,T.E. Coan and J. Ye;;;衰变记录的拟合： 衰变的时间分布 D(t) = λ exp(?λ t) μ子 τ = 1 / λ 线性程度欠佳 统计事件数量;;结果对比。1号机：衰变率0.7，事件数13837；2号机：衰变率0.3，事件数3000 图像的平滑程度、拟合的线性差别;从软件输出的原始数据中提取出发生衰变的记录，时间参数：40~19920，单位是纳秒（对照图像的0-20微秒）。 在Mathematica软件中取0-20000范围，步长为几百纳秒（测量结果显示图对应的步长为2000/6，约333纳秒），用BinCount函数求出分布在各段步长中点的个数。 以各段步长的中点为横坐标，点的个数为纵坐标。得到类似测量软件结果、分辨率不同的图像，用Origin作指数拟合。 对照公式D(t) = λ exp(?λ t)，即可求出μ子寿命的计算结果。;选取不同步长，所得到的衰变分布图;步长选为接近测量软件所用的333纳秒，拟合结果中寿命为2.081±0.023微秒，与测量软件的2.199±0.021微秒有差距;选取不同步长，图像的拟合结果;2号机的两次测量数据合并 事件数6000;结论;谢 谢