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南京理工大学分析测试中心仪器设备展示  X射线光电子能谱仪(XPS)简介 1.仪器名称：全自动聚焦扫描微区光电子能仪(XPS) 2.产品型号：PHI QuanteraⅡ 3.品 牌：日美纳米表面分析仪器公司 4.产 地：日本 5.主要技术指标 系统到达真空 5×10-10 torr； Ag样品XPS光电子能量分辨率 Ag 3d 5/2 峰半高宽 FWHM 0.50 eV ； PET 样品XPS光电子能量分辨率 C 1s的O=C-O峰半高宽 FWHM 0.85 eV ； 最小X射线斑束9.0μm 在x方向；9.0μm 在y方向； XPS灵敏度 15kcps 10.0 μm 能量分辨率0.60 eV 离子枪最大电流 5.0 μA @ 5 kV ； 6.仪器使用范围 电子能谱仪可以对固体样品的表面元素组成进行定性和定量分析，还可以对样品表面原子的化学态及分子结构进行分析研究。利用氩离子深度剖析技术和角分辨XPS技术，可以获得样品表面不同深度的组成变化情况。利用小束斑X射线，可以对样品表面进行微区分析和元素及化学态成像分析。利用原位处理反应池，可在不同温度及压力下对样品进行不同气氛的处理，以获得实际使用气氛对样品表面组成及状态变化的动态影响信息。 适用于高分子材料、催化、电化学、半导体、金属、合金以及生物医学材料等。 管 理 员：白华萍X射线衍射仪（XRD） 一 仪器型号： D8 ADVANCE 二 制造厂商： 德国布鲁克公司 三 主要技术指标： 测量精度：角度重现性±0.0001°； 测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续改变； 最小步长0.0001°； 角度范围（2θ）：-110～168°； 最大扫描速度或最高定位速度：1500°/分； 温度范围：室温～900℃； 环境压力：1mbar-10bar；　　 最大输出：18KW； 稳定性：±0.01%； 管电压：20～60kV(1kV/1step)； 管电流：10～300mA 四 功能及应用范围： 仪器功能：X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。 应用范围：对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析，大部分晶体物质的定量、半定量分析；晶体物质晶粒大小的计算；晶体物质结晶度的计算等。 使用范围：金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；无机材料：陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃；复合材料：碳纤维、纤维大分子、工业废弃物；有机材料：医药品、工程塑料、各种树脂等。 管 理 员：李健生 仪器名称：扫描电子显微镜 仪器型号：JEOLJSM-6380LV 生产厂家：日本电子株式会社 主要技术性能指标： 高真空模式分辨率：3.0nm 低真空模式分辨率：4.0nm 放大倍数：*5 ~ *300，000 加速电压：0.5kv ~ 30kv 低真空度：1 ~ 270Pa 高、低真空切换：图形菜单设定 样品台：大尺寸、超级对中样品台（可装直径150mm样品），三轴马达驱动：X:800mm Y:40mm T:-10 ~ +90度 R：360度 Z:5 ~ 48mm 配套仪器名称：X射线能谱仪 仪器型号：GENESIS 2000 生产厂家：美国EDAX公司 主要技术性能指标： 元素分析范围：能够探测到低至铍Be4(包括铍）的所有元素 有效探测器面积：10m㎡ 能量分辨率：优于等于132cV 信噪比/峰背比：20，000：1 可处理最大计数率：500，000CPS 可输出最大计数率：100，000CPS 数字图像最大清晰度：8192x1600 定性定量成份分析 设备用途及主要技术特点： 扫描电子显微镜镜与X-射线能谱联用，构成一种多功能、多用途的显微分析系统。带有X射线能谱仪的扫描电子显微镜可同时对固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布、晶体样品的晶粒取向分析，取向关系分析等。扫描电子显微镜具有立体感强，放大倍数高、范围广，制样简单的特点。可广泛应用于化工、高分子材料、生物医学、冶金、金属材料等领域的分析测试。 管 理 员：刘孝恒 透射电子显微镜 透射电子显微镜由日本电子株式会社生产，型号为JEM—2100，可在化学化工，材料科学、生命科学等领域的教学和科研工