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第5章2 存储技术
微机原理及接口技术 第5章 存储技术 5.3 动态随机读写存储器及接口设计 * SRAM 与 DRAM 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM SRAM基本存储单元为一个RS触发器 → 状态稳定由6个MOS管构成 → 集成度↓、成本↑由于工艺上的问题,容量不大:128K×8bit 12ns DRAM由一个MOS管(位于栅极上的分布电容)构成→ 容量更大,比如:64M×1,1Gb 优点:集成度高,功耗低,单位容量价格低 缺点:速度慢,需要刷新,连接复杂 * 典型DRAM芯片 Intel 2164A 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 引线 地址线复用:利用A0~A7分两次输入 → 先输入行地址,再输入列地址RAS:行地址选通,兼作片选CAS:列地址选通,兼作数据输出允许 WE:写允许。 0:写;1:读 DIN:数据输入DOUT:数据输出 DRAM容量大,若所有地址线引出芯片外形过大 1:DOUT 高阻 0:DOUT 输出数据 * DRAM工作过程 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 1)读出数据 读操作 P171,图 5.32 给行地址 RAS 给列地址 CAS 保持WE=1,CAS低期间数据输出并保持 * DRAM工作过程 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 1)读出数据 RAS CAS WE 行地址 列地址 DOUT 读出数据 ① ② ③ ④ A0~A7 * DRAM工作过程 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 2)写入数据 P172,图 5.33:提前写 给行地址 RAS WE ,DIN给写入数据 给列地址 CAS WE RAS、CAS ,撤数据 读变写操作 WE变为低电平是在CAS有效之前 * DRAM工作过程 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 2)写入数据 RAS CAS WE DIN 行地址 列地址 有效写入数据 提前写 A0~A7 * DRAM工作过程 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 3)刷新 DRAM必须每隔 2~4ms 刷新一次(因为信息存储在电容中)将DRAM所存放的每一bit信息读出并照原样写入原单元的过程。 刷新由DRAM内部特殊电路来实现,结合外部刷新时序(P172,图5.34),完成整个存储体的刷新。 刷新过程是:每次送出行地址加到芯片上去,利用RAS有效将行地址锁存于芯片内部,这时CAS保持无效(高电平),这样就可以对这一行的所有列单元进行同时刷新。每次送出不同的行地址,顺序进行,则可以刷新所有行的存储单元。也就是说行地址循环一遍,则可将整个芯片的所有地址单元刷新一遍。只要保证在芯片所要求的刷新时间内(2~4 ms)刷新一遍,也就达到定期刷新的目的。刷新波形如图5.34所示。 图5.34 DRAM2164的刷新波形 逐行刷新 * 5.3 DRAM 5.3.1 简单异步DRAM 集成DRAM控制器 用小规模集成电路+定时器 + DMA控制器 3.DRAM连接接口设计 * DRAM在硬件连接设计中必须按图5.34产生RAS、CAS以及地址复用控制信号,保证DRAM能正确地读/写。同时,必须产生一系列的刷新控制信号,能对DRAM进行刷新,而且刷新过程中不允许CPU对DRAM进行读写操作。 因此,DRAM的连接接口要比SRAM复杂的多。 1)行、列控制信号的形成 * MEMW、MEMR 有 效 数 据 A15~A0 RASx 允许 AddrSel CASx 允许 D7~D0 100ns 60ns ① 送行地址 (A7~A0) ② ③ 送列地址 (A15~A8) ④ 1:CPU正常工作 0:DMA DACK0 信号 * 2)DRAM的读/写 图5.40、图5.41:DRAM控制电路的一种实现方法 * DACK=“0” CASx=“1” RASx 由 控制 读“行地址”,刷新一行。 3)DRAM的刷新 图5.40、图5.41:DRAM控制电路的一种实现方法 * 4) 关于使用DRAM的建议 在设计构成微机系统(如嵌入式系统)时,能不用DRAM时尽量不用,可用SRAM代替DRAM,尤其是当构成的内存不是很大时,SRAM的价格是可以接受的。 采用系统集成的方式,用已经做好的产品。例如,购买PC主板或直接购买PC。产品供应商已做好了一切,无需考虑DRAM如何读/写、如
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