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周期多层膜Kirkpatrick-Baez显微镜成像性质分析.pdf

周期多层膜Kirkpatrick-Baez显微镜成像性质分析

第21卷第11期 强 激 光 与 粒 子 束 V01.21,No.11 2009年11月 HIGHPOWERLASERANDPARTICLEBEAMS Nov.,2009 文章编号:1001—4322(2009)11-1681—05 伊圣振1, 穆宝忠1, 王 新1, 黄圣铃1, 朱京涛1, 王占山1, 丁永坤2, 缪文勇2, 董建军2 (1.同济大学精密光学工程技术研究所,上海200092;2.中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳621900) 集光效率要求.设计了KB显微镜的光学结构,模拟了KB系统的成像质量,用W/B。C周期多层膜反射镜进行 了x射线成像实验,在土100 pm视场内得到优于5肛m的空间分辨力结果。实验与模拟结果的对比表明,加工 精度和球差是影响中心视场分辨力的关键因素.有效视场的大小受多层膜角度带宽的限制。 关键词:Kirkpatrick-Baez显微镜;X射线成像;周期多层膜;像质 中图分类号:0434.1 文献标志码:A 显微镜成像性

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