薄膜x射线测厚仪的研制 development of x-ray thickness gauge for plastic film.pdfVIP

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2017-07-23 发布于上海
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薄膜x射线测厚仪的研制 development of x-ray thickness gauge for plastic film.pdf

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薄膜x射线测厚仪的研制 development of x-ray thickness gauge for plastic film

第27卷第6期核电子学与探测技术 No．6 8L NuclearElectronicsDetection 2007 2007年11月 Technology 薄膜X射线测厚仪的研制靳其兵，陈拉 (北京化工大学自动化研究所，北京100029) 摘要：介绍了用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制，详述了该测厚仪的硬件组成和测厚的工作原理。该装置已成功运行在双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜生产线上。关键词：测厚仪，X射线，薄膜中图分类号：TP274文献标识码： A 文章编号： 0258-0934(2007)06—1027—03 薄膜厚度控制是宽幅薄膜生产中至关重要 d—E—GX (2) In瓦U 的单元，直接影响到薄膜产品的质量。而测厚仪是薄膜厚度控制系统中的主要设备。目前国其中偏差E一土lnA；增益G一三 P II￡上内薄膜生产线用于薄膜成品厚度在线测量的测在实际测量中，计算机先储存空扫电压U0 厚仪主要是国外进口设备，维护和使用成本很值，然后根据标准膜的厚度及所对应的测量电高，而国产测厚仪也存在精度低，响应慢，实时压计算出肛和A的值，得出偏差E和增益G，控制效果不好等缺点[1]。此X射线测厚仪的并储存到计算机作为初始化数据。这时d和U 研制在保证精度和功能的同时，降低了成本。为单值函数关系，利用检测出透过被测材质后 1测厚原理和实现射人探测器的射线强度，即可计量出被测材质的厚度值。测厚仪的测厚原理是通过探测X射线管计算机执行的测厚程序如图l，在将模拟发出的X射线在经过被测物质后的吸收率以量转换成厚度值后，乘以标定系数k以进行适测量被测物体的厚度[2]。当调整，用于终端和上位机显示。若改生产其其射线强度U与被测材质厚度d之间的他厚度的薄膜，在生产前重新标定此系数k，并关系可用下式表示：存人计算机即可。 “‘ (1)“7 在对不同厚度的薄膜和对应的接收电压曲掣一A．矿·。砜其中U。表示发射源与探测器之间只有空气时，的薄膜具有很好的线性度。探测器接收的强度；卢表示被测材质的吸收系数；A为未知常数。 2 系统结构上式可改写为：此测厚系统由X射线发射和接收装置，机械传动机构，控制系统，终端操作显示机构，模收稿日期：2006-03-06