金硅面垒半导体探测器温度特性测量与补偿 the test of gold-doped silicon detector and compensation for temperature.pdfVIP

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金硅面垒半导体探测器温度特性测量与补偿 the test of gold-doped silicon detector and compensation for temperature

第 卷 第 期 核电子学与探测技术 Vol.26 No.3 26 3 2006年 5 月 Nuclear electronicS Detection fechnolo Ma 2006 gy y 金硅面垒半导体探测器温度特性测量与补偿 张志龙!傅翠明!郝庆国 ( 中国辐射防护研究院9山西太原 030006) 摘要!金硅面垒半导体探测器多用于 粒子的探测9由它组成的 \ 谱仪对环境温度的变化比较敏 O O B 感9表现为 谱峰位的漂移9为了了解温度对金硅面垒半导体探测器的影响9对其进行了测试研究9以便O 提高系统的测量精度 关键词!金硅面垒半导体探测器9温度特性9补偿 中图分类号! 文献标识码! 文章编号! ( ) fL814 0517.31 A 0258-0934 2006 03-0261-04 金硅面垒半导体探测器组成的 \ 谱仪9 O B 对环境温度变化比较敏感9最明显的表现为 O 谱峰位的漂移9漂移范围少则几道9多则100 多 道9当环境温度变化较大而系统参数匹配又不 太合适时9甚至有 200道的变化 因此9有必要 对半导体探测器温度特性做仔细的测试研究9 了解其对温度敏感的主要因素9掌握其规律性 以便在系统设计时9采取适当的针对性措施9提 图 半导体致冷探测器的温度调节器 1 1 高系统的温度稳定性和测量精度 度循环快9操作简单方便 另外9被测探测器紧 1 探测器温度调节装置 贴在调温的铝环上9铝环温度与探测器的温度 测量半导体探测器的温度特性9需要调温 非常接近(有短时间的滞后) 所以9用热电偶 装置 一般的恒温箱只能加热升温9降温要靠 直接测量铝环的温度即可代表探测器的温度 停热后自然冷却9做一个升降温循环9需要很长 2 探测器主要参数及温度特性测量 的时间9而且体积庞大9操作不便 另外9测量 温度特性9需要准确地测量探测器的真实温度 温度变化既然影响了 谱的峰位9这说明O 这看似简单的问题9但做起来很难 因为在探

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