基于普通汞灯光源横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法研究.pdfVIP

物 理 学报 ActaPhys．Sin．Vo1．63，No．7(2014) 074202 基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气 汞检测方法研究冰 李传新 )2) 司福祺2)十 周海金2) 刘文清2) 胡仁志2) 刘凤垒2) 1)(中国科学技术大学，光学与光学工程系，合肥 230026) 2)(中国科学院安徽光学精密机械研究所，环境光学与技术重点实验室，合肥 230031) (2013年9月12日收到；2013年12月23日收到修改稿) 精确的背景校正决定着冷原子吸收法检测痕量汞的检测下限，研究了基于普通汞灯光源的横向塞曼效应 背景校正大气汞检测方法．汞灯光源253．65nm共振谱线在磁场中垂直于磁场方向产生 一，+和兀三个线 偏振光．利用超高分辨率光谱仪获取不同磁场强度下汞样品池对O-一，+和 线偏振光的吸光度，分析横向 塞曼效应背景校正方法所需的最小磁场强度；在 1．78T强磁场强度下，分析了窄带吸收气体苯、宽带吸收气体 丙酮对横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法可能存在的干扰；利用 ～，+作为背景光，丁【线偏振光作为吸 收光，对不同长度的饱和汞蒸气样品池测量，精确背景校正后，吸光度拟合曲线R值达到O．99．实验结果表明 基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法可以实现精确背景校正，能够应用于大气环境痕 量汞检测． 关键词：冷原子吸收，横向塞曼效应，线偏振，汞 PACS：42．50．Nn，32．60．+i，42．25．Ja，96．30．Dz DOI：10．7498／aps．63．074202 法 [13】等．而使用金汞齐预富集技术附带消耗大， 1 引 言 维护成本高．且冷原子吸收法测量痕量汞时，必须 精确校正背景干扰的影响 因此实现精确的背景 汞的特殊物理化学性质和极强的毒性，使汞 校正对大气痕量汞监测具有重要的意义．上世纪 已经成为全球关注的污染物 【．气态汞具有较低 70年代Hadeishi等提出使用汞同位素作为光源利 的水溶性和沉降速率，且化学反应惰性大，在大气 用纵向塞曼效应背景校正结合冷原子吸收法测量 中的滞留时间长达0．5—2年 2【，引，随着大气可进行 大气痕量汞 [14,15】．国外 已经深入研究并开发了大 长距离的传输，进而扩大污染范围[4]’己经在北极 发现重金属汞的存在 [5】．我 国是汞排放量大 国，每 气痕量汞监测设备，如探测限0．5ng／m0的俄罗斯 RA一915测汞仪I161及美国的Tekran2536A系列测 年汞排放约在 500—700吨 ／年f6-s]，化石燃料的燃 汞仪 [17]等 已经应用于大气环境痕量汞的检测 中． 烧、城市垃圾和医疗垃圾焚烧、有色金属冶炼、氯碱 工业、水泥制造、土法炼金和炼汞活动等都会对大 而国内对高精度大气汞检测方法和设备的研究还 气造成汞污染 6【—910]． 不够． 由于汞污染的严重性，很多国家及学者加强 国外使用Hg 同位素汞作为光源，在光源的 了对环境汞污染的检测研究． 目前汞监测装置采 获取上难度大．目前国内外还缺乏对使用普通汞作 用的方法主要有结合金汞齐技术的冷原子吸收分 为光源的横向塞曼效应背景校正检测方法的详