工业CT多轴运动控制体系构设与实现.docVIP

　　工业CT多轴运动控制体系构设与实现 1 绪 论 1.1课题的研究背景 工业 CT 技术，即计算机断层扫描技术(Industrial puted Tomography)，它是现代核物理学和图像技术理论相结合而产生的一门边缘交叉的新兴学科，近年来已发展为无损检测的一个重要领域。它具有检测速度快、图像分辨率高、不受被测工件几何结构限制等优点[1]。目前，工业 CT 技术主要用于工业产品的无损检测和探伤中，该技术能清晰的、准确的显示被测物体内部结构，能定量的给出物体内部的物理、力学特性(如缺陷位置及尺寸、密度变化)，异型结构的形状及精确尺寸，物体内部杂质及分布等，因此工业 CT 技术被称为最佳无损检测手段[2]。DR 技术(Digital Radiography)，与 CT 技术同为现代无损检测的一种技术手段，是指直接获取被测物体数字辐射投影图像的成像技术。通过前、后准直器把射线准直成扇形束透射被测物体，探测器接收透射射线，从而获得被测物体某断层的投影数据。然后，通过被测物体或射线束在与射线束平面垂直的轨道上作相对运动，依次获取各断层的投影数据，经数学处理后组合在一起，可形成二维 DR 图像。与传统成像技术相比，DR 技术的优点在于系统检测快速，能够实现实时在线检测，扫描所得为数字图像，可通过后期数字图像处理技术进行各种处理。可用于大型工件的检测。有的工业 CT 系统结合了 CT 技术和 DR 技术，使用 DR 技术进行对工件的快速扫描成像，以对工件缺陷或者感兴趣区域的定性检测，再通过 CT 扫描具体断层实现定量检测[3]。工业 CT 和 DR 扫描成像的图像质量评价指标为空间分辨率，是指从 CT 图像中能够辨别最小物体的能力，描述了 CT 系统分辨紧密靠紧物体的能力[4]。空间分辨率经常在两个正交方向上测量： x y平面内和垂直于 x y平面( z 方向)。平面内分辨率通常以每厘米线对数( lp /cm)或者每毫米线对数( lp /cm)的形式表示，一个线对是一堆尺寸相同的黑白条纹，每组条纹代表一个特定的线对，通过检查不同条形图案的分辨能力，可得到在规定条件下系统的空间分辨能力的估计[5]。 1.2课题的研究现状 根据其控制器核心不同可分为三类[9][10]：① 以单片机或微处理器作为核心的运动控制器，利用微处理器取代模拟电路作为电动机的控制器，所构成的系统电路比较简单，绝大部分控制逻辑可采用软件实现。但精度不高，成本相对较低。在一些只需要低速点位运动控制和对轨迹要求不高的轮廓运动控制场合应用。② 以专用控制芯片为核心的运动控制系统，如 Ti 公司的 UCC3626，NOVA公司的 MCX314 等。这类运动控制器结构比简单，具有响应速度快、系统集成度高、使用元器件少、可靠性好等优点。然而，受专用控制芯片本身的限制,这种系统的缺点也是很明显的，如软件算法固化系统、灵活性低、不具有扩展能力、系统升级难。③ 基于 PC 总线以 DSP 或 FPGA 作为核心处理器的开放式运动控制器[11][12]，即PC+运动控制卡的模式，运动控制卡的典型代表有美国Delta Tau公司的PMAC运动控制卡和 MCX 系列四轴专用运动控制芯片[13]。这种方式下，上位机可以专注于人机界面、输入输出、预处理、发送指令、故障诊断等功能；插补、补偿处理、速度控制、位置控制则由插在 PC 总线上的运动控制卡上的 DSP 或 FPGA 芯片来实现，而无需占用 PC 机的资源。这样将 PC 机的信息处理能力和开放式的特点与运动控制器的运动轨迹控制能力有机地结合在一起，具有信息处理能力强、开放程度高、运动轨迹控制准确、通用性好的特点[14][15]。 2 工业 CT 控制系统设计分析 2.1 工业 CT 系统介绍 工业 CT 由于检测对象、用户需求等原因具有较高程度的定制化，因此系统组成不尽相同，但基本组成却相似，如图 2.1 所示，主要由射线源系统、探测器系统、数据采集与传输系统、机械扫描与控制系统、计算机辅助系统等部分组成[22]。射线源系统主要由射线源和前准直器两部分组成，用于产生扫描检测用的射线束。一般 X 射线由 X 射线管或直线加速器产生，gamma; 射线由 Co60 或 Cs137 同位素产生。前准直器的作用是将射线源发射出的射线处理成所需形状的射线束，开口高度由预先设定断层扫描厚度决定。探测系统是由探测器和后准直器组成的。常用的探测器可分为两类：线阵探测器、面阵探测器。后准直器位于被测物体和探测器之间，且紧靠探测器，作用是限制射入到探测器上的射线束尺寸，并与前准直器配合屏蔽散射的射线。机械扫描与控制系统主要完成被测物体的平动、旋转以及与射线源-探测器组合之间物理位置的相对调整。同时，在扫描过程中，还需要实时反馈运动位置信息，用于位置校正和数据采