双断口真空开关的动态介质恢复特性分析 - 高低压电器行业B2B电子 .PDF

真 空 科 学 与 技 术 学 报 第27卷 第3期 CmNESEJ0URNALOFVACUUM SCIENCEANDTEC o】GY 2O07年 5、6月 双断 口真空开关的动态介质恢复特性分析 廖敏夫 段雄英 邹积岩 (大连理工大学电气工程与应用电子技术系 大连 116024) DynanlicDielectricRecoveryCharacteristicsofVacuum Ckcmt-Breakers withDouble．．Break HaoMinfu ，DuanXiongyingandZouJiyan (脚 ．ofElectricalandElectronicEngineering，DalianUniversityofTechnology，Dalian116024，China) Abstract Dynamicdielectricrecoverycharacteristicsofthevacuum cimuit-breakerwithdouble-breakin}lighpowersystem werea~ yti- caUyandexperimentallystudied．Thesimulatedandmeasuredresultsshowthatthesheath-growinginthedouble-break stronglyaffectsthedy— namicdielectricrecovery characteristics．Sincedifferentvoltagedistributionsinthedoublebreak inpostarcinsulationstateleadtodifferent sheath growms，andthedifferencedeterminesthedielectricrecoverycharacteristicsoftheindividualbreak ．Weconcludethataslongas the peak ofthetransientrecoveryvoltage(TRY)anditsrisingratealebelowthecriticalvalues，breakdownofoneofthedoublebreakdoesnotnec- essarilyleadtothefailureofthevacuumcircuitbreaker(VCB)．ThemechanismWasalsodiscussed． Keywords Vacuum circuit—breakerswith double—breaks，Dynamicdielectricrecovery，Sheath，Transientrecovery voltage 摘要 从双断 口真空开关的等值模型出发，分析了双断 口真空开关的动态介质恢复过程 ，说明只要恢复电压的峰值和上 升速度低于某一极限值 ，整个双断口真空开关并不会因为一个灭弧室发生重击穿而导致开断失败。这是因为另一个真空灭 弧室的介质强度仍可能高于此时的恢复电压，它还可以承受整个恢复电压一个比较短的时间，当重击穿的真空灭弧室的介质 恢复以后 ，共同完成分断过程。仿真计算和试验结果表明，由于各真空灭弧室断 口的恢复电压分布不均匀，使得各灭弧室弧 后电荷鞘层的发展不同，进而影响了各自的实际介质恢复特性。这可以解释双断口及多断口真空开关与单断口真空开关相 比开断能力有显著提高的机理。 关键词 双断口真空开关 动态介质恢复 鞘层 暂态恢复电压 中图分类号：TM561．2 文献标识码：A 文章编号：1672．7126(．2(K17)03．190-05 真空开关 (VCB)是电力系统中的新型开关电器， 电气公司1980年开发的168kV，40kA双断口真空断 其特点是利用真空作为主触头问的绝缘介质和灭弧 路器；西屋电气公司开发的 145kV双