一种改进的扫描电路测试压缩方法 An Improved Approach to Test Compaction Based on Limited Scan.pdfVIP

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2017-08-02 发布于上海
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一种改进的扫描电路测试压缩方法 An Improved Approach to Test Compaction Based on Limited Scan.pdf

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一种改进的扫描电路测试压缩方法 An Improved Approach to Test Compaction Based on Limited Scan

总第47卷第539期电测与仪表 V01．47No．539 2010年第ll期 ElectricaiMeasurementInbtrnmentatlon NOV．2010 一种改进的扫描电路测试压缩方法木张旭8，刘煜坤b，张旭辉6，张礼勇6 伶尔滨理工大学a．电工电子教学与实训中心； b测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室，哈尔滨150080) 摘要：提出了一种改进扫描电路测试压缩方法。首先，通过基于向量删除的测试压缩去除测试序列中的冗余向量；其次，用消耗时钟较少的有限扫描操作代替全扫描操作，合并测试序列内部测试向量，减少测试时间；最后，采用启发式方法限制候选测试对数量，降低计算复杂度，加速测试压缩过程。基准电路实验结果表明，相同故障覆盖率下，该方法降低测试时间效果十分显著。关键词：测试时间；有限扫描；测试压缩；启发式方法，中图分类号：TP302 文献标识码：A An toTest BasedonLimitedScan ImprovedApproachCompaction ZHANG Xu8，LIUYu-kunb，ZHANGXu—huib,ZHANG Li-yongb andElectronic Educational for (a．Electrical center，b．TheHigher Training KeyLaboratory of of Instrumentations Scienceand Technology，and HeilongjiangProvince，Harbin University 150040，China) tothe ofthe timeand costofcircuitcaused Abstract：Accordingproblemsignificantincreasing testing testing by the of vectors．this an totest forscan significantincreasingtesting paperproposesimprovedapproachcompaction circuitsthatUSeSlimitedscaninsteadoffullscan betweentest thevector operations pairsfirstly，andapplies omissionmethod methodsareintroducedtolimitthenumberofcandiditetest secondly．Finally，heuristic pairs， reducethe and thetest resul