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材料微观分析技术,浙江大学(共3篇)
材料微观分析技术,浙江大学(共3篇)
浙江大学 微观 材料 分析 技术 浙江大学研究生院 浙江大学本科招生网 浙江大学教务管理系统
篇一:材料微观分析习题及解答
材料微观分析习题及解答(第一章)
1.X射线的本质是什么?用于晶体结构分析的X射线波长一般为多少? 答:X射线的本质是电磁波,它同时具有波动性和粒子特性。
用于晶体结构分析的X射线波长一般为0.25~0.05nm。
2.什么是特征X射线谱?物质的特征X射线谱取决于什么? 答:反映物质原子序数特征的X射线构成的X射线谱称为~。
物质的特征X射线谱取决于物质的原子能级结构。
3.在X射线分析中,为什么要使用滤波片?滤波片的原理是什么?滤波片应如何选择? 答:采用滤波片是希望滤掉两条谱线中的一条,得到“单色”的入射X射线。
滤波片的原理是某物质可以强烈吸收???K波长的入射X射线,而对于???K的X射线吸收很少。
滤波片材料是根据靶元素确定的,当靶固定以后,应满足:当Z靶40时,则Z片=Z靶-1当Z靶≥40时,则Z片=Z靶-2
材料微观分析习题及解答(第二章)
1.将下面几个干涉面(属立方晶系)按面间距的大小排列。
(123)、(100)、(200)、(311)、(121)、(210)、(110)、(221)、(030)、(130)
答:由d?
ah?k
2
2
?l
2
计算得:
即(100)(110)(200)(210) (121)(221)=(030) (130) (311)(123) (注:可以直接用h2+k2+l2来比较,更为简单)
2.证实(110)、(121)、(312)属于[111]晶带。 解:由晶带定律:hu?kv?lw?0
1?1?(?1)?1?0?1?0;(?2)?1?1?1?0;有:1?1?
(?3)?1?1?1?2?1?0;
即(110)、(121)、(312)属于[111]晶带。
3.当X射线在原子列上反射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍,则此方向上必然不存在反射,为什么?
答:由波的合成原理可知,两相干波的波程差不为波长的整数倍时,必然存在一定的位相差,其结果就导致了其合成振幅的变化,必然导致X射线的强度减弱或等于零,即存在一定的相消现象,故不发生衍射(即所谓的反射)。
4.当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少?
答:前者为nλ,后者为λ。
材料微观分析习题及解答(第三章)
1.多重性因子的物理意义是什么?某立方系晶体,其{100}的多重性因子是多少?如该晶体
转变成四方系,这个晶面族的多重性因子会发生什么样的变化?为什么?
答:多重性因子为等同晶面个数对衍射强度的影响因子。所谓等同晶面是指面间距相同,晶面原子排列规律相同的晶面。在布拉格条件下,等同晶面同时参与衍射,构成一个衍射圆锥。所以,多重性因子越大,即等同晶面越多,参与衍射的晶面就越多(准确地说,参加衍射的概率越大),对衍射强度的贡献也就越大。
查附录5可知,立方系晶体中{100}多重性因子为6,而对于四方系,其多重性因子为4,这是由于(100)和(001)晶面的面间距不同(不能称为等同晶面)而造成的。
2.总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。
解:
材料微观分析习题及解答(第四章)
1.在德拜图形上获得了某简单立方物质的如下4条谱线:
所给出的Sin2θ数值均为CuKa1衍射的结果。试用“α-cosθ”图解外推法确定晶格常数,有效数字为4位。(λ
Cu- Ka1=1.54050?)
解:对于简单立方,有 2dsin???及dhkl?
ah?k
2
2
?l
2
可得
sin??
2
?
22
4a
(h?k
22
?l)计算结果为:
2
解得a=4.997(?)
2
2.续上题,以为cosθ外推函数,请用柯亨法计算晶格常数,精确到4位有效数字。
解:柯亨法正则方程为:
?asin??sin
其中 A?
?
2
2
??A?a?C?a???A?a??C??
2
2
2
2
2
4a0
a?(h2
2
?k?l) ? ? 10sin2?
2
计算结果列表如下:
柯亨方程为:
154.8213? 6489A?231.2095C 5.5327?231.2095A?14.1039C
解得:
A=0.0237602 C=0.0027727
则:
a0?
?
2
4A
?
1.54050
2
4?0.0237602
?4.99697?4.997
即:
a0=4.997
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