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衍射方法监控键合线断裂
试验研究
衍射方法监控键合线断裂
肖 勇,逄玉俊,葛晓宇,高淑芝
(沈阳化工大学信息工程学院,辽宁 110142)
摘 要:在制造行业中,键合线广泛用于连接半导体芯片焊点和封装接线端。随着工厂自动化
程度的不断提高,急需配置智能传感器来监控键合线的断丝故障,可是芯片和键合线的发展趋势是
越来越精细,这给当前的键合线监控方法带来了严峻的挑战。提出了基于单缝衍射的精细键合线
监控方法,通过观测特定衍射条纹的光强变化来判断键合线的存在与否。试验结果表明,对于直径
为25 m或更精细的键合线,此方法可以达到理想的监控效果。
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关键词:键合线;衍射条纹;光强;光电阵列
中图分类号: ; 文献标志码: 文章编号: ( )
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