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光切显微镜校准规范
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1092-2002
光切显微镜校准规范
CalibrationSpecificationforLight一SectionMicroscopes
2002一11一04发布 2003一05一04实施
国家质量监督检验检疫总局 发布
JJF1092-2002
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光切显微镜校准规范
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本校准规范经国家质量监督检验检疫总局于2002年11月04日批准，
并自2003年05月04日起施行。
归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:广西计量测试研究所
陕西省计量测试研究所
上海光学仪器研究所
本规范委托归 口单位负责解释
JJF1092-2002
本规范主要起草人 :
全贻智 (广西计量测试研究所)
张 磊 (陕西省计量测试研究所)
张兴德 (上海光学仪器研究所)
JJF1092- 2002
目 录
范 围
2 引用文献
3 概述
4 计量特性 ···················································································…… (1)
4.1 测微 目镜视场及示值误差 ) l (
4.2 狭缝像两边缘的直线度和平行度 ) 2 (
4.3 工作台纵横向导轨移动平面对工作台表面的平行度 ) z (
4.4 狭缝像在垂直方向的弯曲度 ) z (
4.5 托架受20N侧向力时引起物方像的位移 ) z (
4.6 仪器示值误差 ) 2 (
5 校准条件 ·······································
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