SoC芯片内嵌模数转换器的验证测试 Functional test of embedded analog-to-digital converter used in system on chip(SoC).pdfVIP

电子测量技术 第34卷第12期 ELECTRONICMEASUREMENTTECHNOLOGY 一和蛳啕沸一 2011年12月 SoC芯片内嵌模数转换器的验证测试* 姜岩峰 张 东 生哓坤 (北京自动测试技术研究所 北京 100088) 摘要：如何对系统芯片(SoC)中内嵌的模数转换器进行验证测试，是集成电路测试技术研究的重点和难点之一。对 一款应用于有线数字电视传输中信道解调解码芯片中内嵌模数转换器的测试方法进行了研究，在分析芯片功能和引 脚的基础上，列出了具体的测试夹具开发方案和电路引线图，针对内嵌式ADC的特点，给出了测试向量中测试矢量的 时序关系，根据时序关系编写了测试向量，基于以上基础，完成了内嵌式ADC的测量，并总结了测量内嵌式ADC时需 要注意的问题。 关键词：系统芯片；内嵌式模数转换器；测试向量