比较三种MC模拟数据产生的相同粒子的径迹重建效率是否一致.PPT

P I D zhi hong Wang USTC 粒子鉴别信息 dE/dx信息 归一化脉冲高度和有效击中次数 TOF信息 耦合后的质量平方分布；以及z向击中位置 EMC信息 沉积能量和簇射形状 μ探测器信息 穿透深度和最大击中数 dE/dx信息 在MDC中，带电粒子使工作气体电离而被探测，脉冲高度正比于原初电离产生的电子—离子对数目。 带电粒子沿着路径长度Δx穿过飘移单元时，会经历多次碰撞，产生的初级粒子数目正比于碰撞中损失的能量 dE/dx信息 右图为带电粒子的归一化脉冲高度随动量的分布 我们可以很清楚的看出e , π/μ , k ,p 对应的四条带子 ; π/μ的辨别可以根据后面的π,μ在μ探测器中不同的穿透深度来辨别 dE/dx信息 实验上测得的dE/dx总是有一定的分辨的，传统的方法是首先确定测得的dE/dx相对于各种粒子假定的偏离： i=e, μ,π,k,p, 为测量到的dE/dx的幅度， 和 分别为第i种粒子假定下dE/dx幅度分布的平均值和标准偏差。 显然χ的绝对值越小，所测径迹是i种粒子的可能性越大。 dE/dx粒子鉴别的信息包括：归一化脉冲高度和有效击中数 TOF信息（强子鉴别） TOF分为barrel和end cap两部分，是进行强子鉴别的有力工具。 TOF的物理目标是通过测量粒子的飞行时间对带电粒子进行鉴别。 一个带电粒子的速度（ β c）与质量（m）为： 这里c为光速， 为TOF的测得的飞行时间，L为飞行距离，p是MDC测量给出的带电粒子平均动量。 TOF提供的粒子鉴别信息：耦合后的质量平方分布；以及z向击中位置 TOF信息 右图给出了e , π , k , p 这几种粒子的飞行质量随动量变化的分布 e /π可以利用EMC中沉积能量不同和簇射形状不同进行区分 EMC信息 EMC对电子， μ子以及强子的响应不同，其中沉积能量有显著的差别。 电磁簇射与强子簇射间的形状差异对电子与强子， 以及μ子和强子的鉴别也有帮助。 上述两者都被选作粒子鉴别信息 右图显示为量能器中 电子， π 和μ的E/p比 分布 EMC信息 簇射形状可以由三个沉积能量来表示： （1）中心晶体沉积的 能量Eseed ； （2）中心3*3晶体沉积的能量E3*3 ； （3）中心5*5晶体沉积的能量E5*5 ； μ 探测器信息 桶部的9层RPC和端盖的8层RPC以及强子吸收铁，构成了μ子探测器。 电子被量能器全部吸收，不能达到μ子探测器； 大部分强子在穿过量能器和磁铁之后，会被前端吸收磁铁吸收； 而μ子由于具有较强的穿透性，可以有效的通过前端吸收磁铁。 μ子和π在穿透深度上的差异可用来作为鉴别信息~ μ 探测器信息 右图给出了μ子和π子在穿透深度上的差异 BES3 detector MDC 基于小单元氦基 TOF 飞行时间计数器 EMC CsI晶体全吸收量能器 μ detector 以RPC夹层结构为主插入吸收铁 BES3的4个子探测器具有优良的性能~为最终的粒子鉴别提供了丰富的信息 粒子鉴别的最终效果不仅与探测器的性能有关，而且与粒子的运动学量有强烈的联系~~每一个探测器在不同的能去响应也不一样 Tracking Efficiency zhi hong Wang USTC 主要研究带电径迹重建效率。 粒子在探测器中与物质相互作用而被记录下来，被探测到的带电径迹在重建过程中，由于径迹在探测器中留下的信号太小，或者噪声太大等原因，并不是所有被探测到的径迹都被重建出来，这就引出了径迹重建效率的问题。 径迹重建效率在MC模拟数据和真实数据中的一致性，直接对应于物理分析中的系统误差。 径迹重建效率的定义 径迹重建效率定义为： 其中， 是指经过分析程序，挑选出来的好的带电径迹数， 是指衰变道的带电径迹总叉数。 分子N表示衰变道中所有带电径迹都被找到的事例数；分母N表示衰变道中除了要得到径迹重建效率的“missing track”之外的其他径迹都被找到的事例数。 径迹重建效率的定义 下面基于 衰变道，举例说明径迹重建效率的定义。假设要从 衰变道得到 的重建效率，则定义径