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Application IXRF 能谱功能——形态学与颗粒分析 - 天美(中国)科学
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TECHCOMP (CHINA) LTD.
中国北京朝阳区天畅园7 号楼1、3 层
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E-MAIL:techcomp@techcomp.cn
IXRF 能谱功能——形态学与颗粒分析
IXRF 能谱软件配有形态学与颗粒分析功能 ，以下是对这两个功能的详细介绍
形态学分析 ：
形态学分析是一种图像分析方法， Iridium Ultra 中的形态学是简单的颗粒
图像分析，通过计算机对颗粒进行自动的标识和特征值测量，传统的手动测量存
在较大的人为误差。
测量的步骤如下：
一． 从电镜获取图片，调整图片至较好的对比度，如下图 ：
二． 对图像进行二值化处理，将要分析的颗粒变为纯白，其余背底变为纯黑 ，
计算机对颗粒进行标记和测量。
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Point Area Perimeter Feret Min Feret Max Feret Mean Feret
颗粒号 面积 周长 Diameter Diameter Diameter Elongation
最小直径 最大直径 平均直径 最长直径/最短直径
1 124.34 43.54 11.4 14.1 13.2 1.23
2 8.60 15.40 1.7 6.5 4.7 3.71
3 24.50 25.96 2.7 11.2 7.9 4.09
4 51.90 32.67 5.0 13.2 10.0 2.65
5 6.74 10.92 2.7 4.1 3.3 1.51
6 7.55 11.56 2.6 4.1 3.4 1.61
7 2.23 5.97 1.5 2.0 1.8 1.35
8 177.55 69.84 14.3 16.6 15.5 1.15
9 23.14 19.18 5.1 6.2 5.8 1.23
10 30.25 20.82 6.0 6.6 6.3 1.10
除了颗粒，多孔材料也可以用形态学进行孔径、面积、周长等统计
颗粒分析 ：先图像处理，二值化，对颗粒进行形态测量、然后对颗粒 EDS 分析、
按成分不同进行颗粒分类；
一， 获取图像
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