基于多目标遗传优化的容差电路故障屏蔽诊断 tolerance-circuit fault screen diagnosis based on multiobjective genetic algorithm.pdfVIP

2006年3月 电工技术学报 v01．2lNo．3 第2l卷第3期 TRANSACTIoNS0FCHINAELECTROTECHNICALsoCIETY Mar． 2006 基于多目标遗传优化的容差电路 故障屏蔽诊断 彭敏放1 何怡刚1 沈美娥2 贺建飚3 (1．湖南大学电气与信息工程学院长沙 410082 2．北京信息工程学院计算机科学与工程系 北京 100101 3．中南大学信息科学与工程学院 长沙 4l0083) 摘要 将多目标遗传优化算法与故障屏蔽原理相结合，提出了一种新的容差模拟电路故障屏 蔽诊断方法。通过分析计算故障与容差效应对端口特征量的影响，建立了模拟电路具容差情况下 的故障屏蔽模型，创建了目标函数与相应的适应值函数，用以搜索能极大限度屏蔽故障支路的最 优激励，根据最优激励的Pareto解集及所提隶属度函数来实现故障定位。模拟试验结果表明：所 提方法避免了故障效应