近光试验.DOC

近光實驗 實驗九 單光儀與光譜量測 實驗九 單光儀與光譜量測 一　實驗目的 認識與熟悉單光儀的原理與系統。 測量各式光源之光譜。 二　實驗內容 操作單光儀 使用LabVIEW GPIB控制 測量分析光譜 三　實驗器材 凸透鏡 mirror filter Monochromater Power meter Light sources Xenon lamb He-Ne Laser 汞燈 四　實驗步驟 確認實驗系統 畫實驗系統設置圖，記錄相關參考位置與高度，使光軸通過單光儀入口狹縫。 小心單光儀的解析度之最佳化。 先打開光源，利用凸透鏡Ⅰ使光源能不放散的打在mirror上 調整mirror使光打在單光儀的狹縫上，加入凸透鏡Ⅱ使光聚焦在狹縫上，並在單光儀的另一端狹縫輸出端接上power detector量測到最大值後，始可測量。 注意狹縫寬度之控制，調整時不宜過份用力。 在利用規腦的自動控制欠體Labview，選用不同光柵，來讀取power meter所傳回的值。 利用Labview所記錄的數來做波長對強度的關係圖並探討分析之。 試用不同解析度重量光譜，分析有何差異。 更換不同光源重覆3–9步驟。 分析各個光源整光譜特徵。 五　實驗裝置  　　　　　　　　　　　　圖一　 六　討論 由Xe燈的數據可得出Xe燈在可見光波段(400～700nm之間)為連續光譜，在各個波段都會有能量分布，不過在接近500nm左右的強度較其他強度大，可能因為該範圍所選定之光柵特徵波長上面的一些是數值並不符合圖形，根據我們的判斷，應該是儀器上的問題，使用比較簡便的單光儀，會有數值測量上的問題，之後會詳細討論。 實驗中待測的汞燈，在600～700nm之間的波段，明顯可以看出數值參差不齊，並非想像中有理論值出現，所猜測的誤差原因，應該是光柵的最佳測量範圍已超出，雖然可以繼續使用，但不能夠得到正確的波長強度，所以理論值並不明顯，而不確定與文獻對照的理論值是否發生． 圖二　氙燈波長─能量分布 由Laser的數據可得知僅有一特定波長，並非連續的光譜構造，由文獻可以得知，該波長為674.5nm，頻寬約為0.35nm。由實驗所得的圖形可以發現，Laser所打出的波長是一個分布，並不是唯一單一一個特定波長，只是在我們所得頻寬之外的波長強度，可以忽略。此Laser的波長在可見光的範圍之內，屬於紅色的光。 圖三　半導體雷射波長能量分布 由汞燈所測得的數據顯示，我們可以發現，相對於氙燈的連續波長能量分布，汞燈的光譜為數個特定波長光所組成，所以會發現整個圖形有幾個強度較大的波長，這就是組成汞燈的特定波長，與理論值可見光波段的波長如下表，其中有407.8 nm、491.6nm兩個未被測到，而有多測到363 nm及730 nm的紅外及紫外光。至於 λ測得(nm) λ理論(nm) 誤差(%) 690.8 691 0.028952 623.4 615 -1.34745 579.1 579 -0.01727 546.1 546 -0.01831 491.6 435.8 436 0.045893 407.8 404.7 404.5 -0.04942 圖四　汞燈的波長─能量分布總圖 圖五　汞燈波長650nm~700nm能量分布圖 圖六　汞燈500nm~600nm能量分布圖 圖七　汞燈350nm~450nm能量分布圖 在檢查數據時發現一開始使用的舊式單光儀，在某幾個數據有數量級上的差異，應該是儀器的問題，後再由較高解析度的單光儀，來重測會發現是儀器所出現的錯誤訊息，這個錯誤值的誤差可達105以上。 當在測量局部區域時，在一開始的數據會略大於0，大約為10-6左detector接收，經過控制器的判斷，來獲得待測波長的強度，就光柵的特性而言，要用平行光入射才會有預期中的效果，能夠明顯的因波長不同，來反射不同的角度． 圖八　單光儀簡圖 入射打到光柵的平行光，是由一個凹面鏡反射而成，就凹面鏡而言，凹面鏡的焦點就是入射狹縫的位置，所以我們在處理待測光源時，一定要把光聚焦在入射狹縫口處，才能夠使得光柵獲得一平行光來進行實驗． 在入射的可調狹縫處，如果狹縫寬度過小的話，會造成入射的光強度太小，如果待測光源本身強度不夠時，不易分辨實驗所需波長強度與雜訊之間的區別，這樣容易誤判數值．反觀狹縫寬度過大的話，入射光線就不是點光源，而是一個線光源，經過凹面鏡反射之後，平行光之間因為點光源的誤差而產生干涉的現象，如此射入光柵的光線就不是平行光，產生誤差． 此外，在出射挾縫處，也是出射凹面鏡的焦點，所以當我們把出射狹縫調整過小時，出射的強度過小，而易受雜訊的干擾，反言之，如果出射狹縫的寬度過大時，會造成同時有數個波長的輸出，並非一單受測的波長量值． 就光柵的性質而言，並非會完全的反射出光的強度，就