通过曲线拟合来修正系统误差.PPT

第5章 智能仪器典型处理功能 5.1 硬件故障的自检 5.2 自动测量功能 5.3 仪器测量精度的提高 5.4 干扰与数字滤波 第5章 智能仪器典型处理功能 智能仪器的主要特征是以微处理器为核心进行工作，因而智能仪器具有强大的控制和数据处理功能，使测量仪器在实现自动化，改善性能，增强功能以及提高精度和可靠性方面发生了较大的变革。 本章侧重讨论一般智能仪器都具有的典型处理功能。 5.1 硬件故障的自检 5.1.1 自检方式 5.1.2 自检算法 5.1.3 自检软件 为什么要测试ROM和RAM，怎么测试呢？ 普遍的看法是：由于担心ROM和RAM芯片损坏，在出厂和使用前应该校验这两种芯片的好坏。测试RAM的方法是写读各个内存单元，检查是否能够正确写入；测试ROM的方法是累加各存储单元数值并与校验和比较。这种认识不能说错，但有些肤浅，照此编出的测试程序不完备。一般来说，ROM和RAM芯片本身不大会被损坏，用到次品的概率也比较小，真正出问题的，大都是其他硬件部分，此醉翁之意不在酒。 ROM测试 测试ROM的真正目的是保证程序完整性。 嵌入式软件和启动代码存放在ROM里，不能保证长期稳定可靠，因为硬件注定是不可靠的。以flash ROM为例，它会由于以下两种主要原因导致程序挥发： 1）到辐射。本身工作在辐射环境里/运输过程中受到辐射（如过海关时被X光机检查）。 2）长时间存放导致存储失效，某些0、1位自行翻转。 RAM测试 测试RAM的真正目的是保证硬件系统的可靠性。 RAM真的是太不容易坏了，我至今还没有看见过一起因为RAM损坏导致的系统不正常现象。不过大部分问题却可以通过RAM测试反映出来。仔细想想，当硬件被生产出来/被插到背板上究竟会发生什么错误呢！是不是感到自己做的板子出问题的可能性更大！请考虑如下几点： 1）生产工艺不过关，过孔打歪了，与临近信号线距离不满足线规甚至打在了线上。 2）由于搭锡引起的信号线粘连。 5.1.1 自检方式 　　（1） 开机自检。开机自检在仪器电源接通或复位之后进行。自检中如果没发现问题，就自动进入测量程序，如果发现问题，则及时报警，以避免仪器带病工作。开机自检是对仪器正式投入运行之前所进行的全面检查。 　　（2） 周期性自检。周期性自检是指在仪器运行过程中，间断插入的自检操作，这种自检方式可以保证仪器在使用过程中一直处于正常状态。周期性自检不影响仪器的正常工作，因而只有当出现故障给予报警时，用户才会觉察。 　　（3） 键盘自检。具有键盘自检功能的仪器面板上应设有“自检”按键，当用户对仪器的可信度发出怀疑时，便通过该键来启动一次自检过程。 5.1.1 自检方式 自检过程中，如果检测仪器出现某些故障，应该以适当的形式发出指示。智能仪器一般都借用本身的显示器，以文字或数字的形式显示“出错代码”，出错代码通常以“Error X”字样表示，其中“X”为故障代号，操作人员根据“出错代码”，查阅仪器手册便可确定故障内容。仪器除了给出故障代号之外，往往还给出指示灯的闪烁或者音响报警信号，以提醒操作人员注意。  5.1.2 自检算法 由于ROM中存在着仪器的控制软件，因而对ROM的检测是至关重要的。 ROM 故障的测量算法常采用“校验和”方法，具体作法是：在将程序机器码写入ROM的时候，保留一个单元（一般是最后一个单元），此单元不写程序机器码而是写“校验字”，“校验字”应能满足ROM中所有单元的每一列都具有奇数个１。自检程序的内容是：对每一列数进行异或运算，如果ROM无故障，各列的运算结果应都为“１”，即校验和等于FFH。 数据存储器RAM是否正常的测量算法是通过检验其“读/写功能”的有效性来体现的。 常选特征字55H和AAH，分别对RAM 中的每一个单元进行先写后读的操作。判别读/写内容是否相符的常用方法是，把该单元的内容求反并与原码进行“异或”运算，若结果为FFH，表明正常。 5.1.2 自检算法 5.1.2 自检算法 5.1.3 自检软件 5.2 自动测量功能 这种智能电压表的自动量程转换与求平均值工作的过程是：系统运行前将量程预置为最高（Q=6）,然后进行测量并判断测量值是否为欠量程。如果为欠量程,则判断这时的Q是否为1,若不为1,则降低一挡量程（即Q=Q-1）,再重复上述测量、判断过程,直到不是欠量程或Q=1时为止；若Q为1,则取N=10并进行平均值计算。如果不是欠量程,则判断是否为超量程。如果是超量程,则判断此时Q是否等于6。若此时Q=6,则作过载显示；若Q不等于6,则升高一挡量程（即