集成电路可测性设计io复用方法 methods of dft io multiplexing.pdfVIP

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2017-08-13 发布于上海
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集成电路可测性设计io复用方法 methods of dft io multiplexing

a计nd 1f■‘ 集成IC电D路esi设gnA与pp应lica用tion绉广 DOI：10．3969／j．issn．1003—353x．2011．09．013 集成电路可测性设计IO复用方法张明，万培元，林平分 (北京工业大学嵌入式系统实验室，北京100124) 摘要：超大规模集成电路特征尺寸逐步缩小的发展过程中，芯片面积是制约芯片成本的最重要因素之一，也是直接影响半导体产品市场竞争力的最重要因素之一。本文介绍了将所有可测性设计(DFT)的输入输出端口(IO)与各种类型的正常功能工作模式的IO复用的方法，从而达到减少IO并最终减小芯片面积的目的。介绍了输入信号和输出信号分别在单向端口IO和双向端口10中复用的方法。然后，以一款经过O．18“m逻辑工艺流片验证的flash存储器控制芯片为例，对比了采用IO复用方法前后芯片的利用率和面积，证明了方案的可行性和有效性。关键词：面积；输入输出端口；复用；可测性设计；测试模式选择中图分类号：TN407文献标识码：A MethodsofDFT10 Multiplexing ZhangYue，WanPeiyuan，LinPingfen Embedded 100124 System of China) (Beijing KeyLab，BeijingUniversityTechnology，Beijing Abstract：Withthe ofvery scale featuresizeis developmentlarge integration，whoseshrinking of areahasbecomeoneofthemost factorstoaffectthecostone die，and gradually，chip important finally affectthe ofonesemiconductor structuresof withall for competitiveness product．The multiplexingdesign all ofnormal functionIOweredescribedto test(DFT)input／outputports(IO)andtypes working decreasethe ofIOand achievethe of areaofthe IO quantity ultimately goal reducing chip．The methodsof and in 10andbi—directionalIOwere multiplexing inputsignalsoutputsignalsinput／output 0．18