基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法 aging failure protection for integrated circuit based on spatio-temporal redundancy.pdfVIP

第27卷第1期 电子测量与仪器学报 砌^27No．1 · 38· JoURNALoFELECTRoNICMEAsUREMENTANDINsTRUMENT 2013年1月 DOI：10．3724／SP．J．1187．2013．00038 基于时．空冗余的集成电路老化失效防护方法枣 严鲁明1 梁华国2黄正峰2 (1．合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009；2．合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009) 摘要：集成电路工艺水平进入深亚微米时代后，电路老化效应已成为威胁电路可靠性的新挑战。对电路老化导致的电路失效 防护问题进行研究，提出了一种基于时．空冗余技术的失效防护方法。该方法根据老化的行为特征，通过冗余的时序单元对数据 路径进行加固，并采用多时钟技术控制时序单元的采样过程。当电路出现因老化导致的时序错误时，通过冗余时序单元的二次 采样纠正电路错误信号；同时，统一调整电路的时钟相位，保证每条数据路径都满足时序要求，防止电路失效的发生。方法在 ISCAS’89基准电路中进行了测试。实验数据表明：在冗余时钟相位差达到时钟周期的20％时，该方法可以有效的将电路的平均 故障间隔时间(MTTF)提高1倍以上。 关键词：电路老化；失效防护；时．空冗余；可靠性 中图分类号：TN406 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．3040 basedon failure for circuit redundancy Aging protectionintegrated spatio—temporal Yah Lumin91LiangHuagu02HuangZhengfen92 and ofElectronicScience 230009，China；2．School (1．School Information，HefeiUniversityofTecllllolo蹦Hefei ofComputer 230009，China) Applied UniversityofTecllllology，Hefei Physics，Hefei the ofIChasenteredtothelevelof circuithasbecamenew Abstract：Because sub-micrometer,the technology deep aging tothe ofcircuit．Transistorcouldcausethe ofcircuit reliability aging graduallydegradation challenge this novelmethodbasedontimeand is to leadtothe error．In proposed eventually timing paper,a flip·-flopredundancy influencetransistor methodusesdualmodular of