模拟电路的可测性及故障诊断方法研究 research on testability problem and fault diagnosis method in analog circuit.pdfVIP

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2017-08-13 发布于上海
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模拟电路的可测性及故障诊断方法研究 research on testability problem and fault diagnosis method in analog circuit

20 5 Vol.20 No.5 第卷第期电子测量与仪器学报 JOURNAL OF ELECTRONIC 2006 10 MEASUREMENT AND INSTR UMENT 17 年月 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 模拟电路的可测性及故障诊断方法研究 !# $% ( , 610054) 电子科技大学自动化工程学院成都 ! O , 摘要研究了基于模拟电路拓扑结构关系的故障可测性判据依据故障点处提供的故障信息量最大将故障诊断问题转化为寻找最优故障检测点问题 O , 给出在电路中部分元件不可测情况下确定最优故障检测点及故障源的方法讨论了电路 , , O 故障诊断模型的建立通过逐步搜索故障模型中的最优检测点直至定位到故障元件一个模拟电路故障诊断实例验证了该方法的有效性 O ! , , , 关键词模拟电路故障诊断可测性检测点 ! !a 中图分类号 TN7 文献标识码 Researchontestabilityproblemandfaultdiagnosismethodinanalogcircuit YuanHaiying ChenGuangju CoiiegeofautomationengineeringUniversityofeiectronicscienceandTechnoiogyofChinaChengdu610054 China ( , , , ) 1 abstractThefauittestabiiitycriterionbasedontopoiogicaistructurereiationshipofcomponentsinanaiogcir- cuitwasresearchedhere.accordingtotheruiethatfauitinformationvoiumeismaximaiatfauitpointthefauitdi- , agnosisprobiemistransferredintoprobiemonseekingforoptimumfauitdetectingpoint.whentherearepartiaiim- measurabiecomponentsoccurrence,themethodabouthowtodefineoptimumfauitdetectingpointandfauitre- , , sourcewaspresentedthemodeiingprobiemonfauitdiagnosisincircuitwasdi