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Spc培训课件(五大工具).ppt

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Spc培训课件(五大工具)

成本平衡 越界的可能性0.3% P=0.5X0.5X0.5X0.5X0.5X0.5X0.5 =0.00787 P=0.5X0.5X0.5X0.5X0.5X0.5X0.5 =0.0078125 1 δ31.74% 2δ4.55% 3δ0.27% 4δ6200PPM 5 δ233PPM 6 δ3.4PPM 标准差等于R的均值/d2; K:偏移度 * * * 顾名思义,计数型数据是通过计数而不是通过测量得到的。 抽样数不同时要分别作UCL , LCL * 第三节 中位数图 中位数图可以得到和均值-极差图相同的结论 中位数图易于使用 可以显示过程输出的分布宽度且可以给出过程变差的趋势 可以几个过程或一个过程不同阶段的输出进行比较 子组的样本容量小于或等于10 当样本容量为偶数时,中位数是中间两个数的均值 将每个子组的中位数和极差填入数据表 一般建议同时画出极差图观察极差的趋势或链 * * X-R图公式 CLR= R UCLR=D4R LCLR=D3R UCLx=X+A2R LCLx= X-A2R CLx=X ~ ~ ~ ~ * 第四节 单值和移动极差图 用在测量费用较大或输出性质比较一致时 探测过程的变化不如均值-极差图敏感 在数据图上从左至右记录单值数据,计算单值间的移动极差 极差的个数比单值读数少一 * 单值和移动极差图的解释 * X-MR图公式 UCLMR=D4R LCLMR=D3R UCLx=X+E2R LCLx= X-E2R CLx=X CLR=R * 计数型控制图 第四部分 * Spec LSL USL 5.计数型数据控制图 不合格品的p控制图 不合格品的np控制图 不合格品的c控制图 单位不合格品的u控制图 计数型数据 合格/不合格 成功/失败 通过/不通过 * 什么是计数型数据 请大家判断以下哪些数据是计数型,哪些是计量型: . 用电压表测量:电压是220伏特; . 用万用表测量电阻:20欧姆; . 某批产品不良品数目是:3个; . 所购买的电视机图像质量:好(或不好) . 测量某产品的高度:1.78米 . 对某批产品:接受(或不接受) * 1.P控制图的作法 收集数据,至少20组以上. 计算每组之不良率P. 计算平均不良率P=总不良个数ΣN / 总检查数∑n 计算控制界限 中心线 CL=P 上限 UCL=P+3 √P(1-P)/n 下限 LCL=P-3 √P(1-P)/n 绘控制界限,并将点点图中. 记入数据履历及特殊原因,以备查考,分析,判断. 第一节 不合格率的p图 * P控制图实例 批号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 合计 平均 样数 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 2500 100 NG数 4 2 0 5 3 2 4 3 2 6 1 4 1 0 2 3 1 6 1 3 3 2 0 7 3 68 --- 不良率% 4 2 0 5 3 2 4 3 2 6 1 4 1 0 2 3 1 6 1 3 3 2 0 7 3 --- 2.7 8 UCL=7.6% 2 6 4 0 CL=2.7% 1) P=68/2500=2.7% CL=P=2.7% 2) UCL=0.0756=7.6% LCL=0 * 不合格品率P图-超出控制限的点 * 第二节 不合格品数的np图 用于度量一个检验中的不合格品的数量 下列情况时可选用np图 不合格品的实际数量比不合格品率更有意义 各阶段子组的样本容量相同 收集数据 受检验样本的容量必须相等 * 不合格品数np图 * * 第三节 不合格数的c图 用于测量一个检验批次内不合格的数量 要求容量恒定或受检材料的数量恒定 主要用于 不合格分布在连续的产品流上 可以用不合格的平均比率表示 在单个的产品检验中可能发现不同潜在原因造成的不合格 * 单位缺陷数c图 * * 第四节 单位产品不合格数的u图 用于测量具有容量不同的样本的子组内每检验单位产品内的不合格数量 * * *

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