微光检测仪采样叠加电路研究 research on sampling and stacking circuit in low luminous intensity detecting machine.pdfVIP

电 子 测 量 技 术 第29 卷 第4 期 ELECTRONIC MEASUREMENT TECHNOLOGY 2006 年8 月 微光检测仪采样叠加电路研究 唐 杰 黄启俊 （武汉大学物理科学与技术学院微电子系武汉430072 ） 摘! 要：本文利用取样积分器原理，设计了一个微光检测仪采样叠加电路。通过对夹杂有非相干噪声的微光信号进 行放大、滤波、采样和叠加处理，实现了从噪声中提取有效信号，从而提高了微光仪的测量精度和灵敏度。本设计在 PSpice 环境下仿真通过，并在实际电路测试中达到了比较理想的效果。 关键词：微光检测；峰值检测；采样叠加 Research on sampling and stacking circuit in low luminous intensity detecting machine Tang Jie Huang Oijun （Department of MicroeIectronic ，SchooI of Science and TechnoIogy of Physics ，Wuhan University ，Wuhan 430072 ） Abstract ：According to the principIe of BoxCar ，a sampIing and stacking circuit in Iow Iuminous intensity detecting machine is designed. The effective signaI has been obtained through the process of ampIifying，fiItering ，sampIing and stacking to the signaI. Therefore ，the detecting sensitivity and precision of Iow Iuminous intensity detecting machine can be improved. This design is verified by the simuIation of Pspice. It aIso has good resuIt in actuaI test. Keywords ：Iow Iuminous intensity detecting ；peak detecting ；sampIe and stack 0 引 言 微光探测在生物、医学、材料、环境、通信等领域有着 重要的应用价值。微光检测仪［l］分为光电转换和信号处 理两部分。光电转换可用内调制微光管实现，得到一个幅 值与光强成正比的调制电压信号。普通的微光仪将此信 号作为测量的结果。实际上当入射光很弱时，此信号容易 受环境和器件的噪声污染，甚至被淹没。对调制信号进行 图l 微光检测系统基本框架 滤波处理并根据取样积分器原理［2 ］进行采样叠加，能够大 值测量电路是微光仪采样叠加电路的重要部分。设计中 大降低噪声干扰，有效提高测量灵敏度和准确性。 对受调制信号作正负峰值检测后，作差得到相对幅值。同 ! 测量电路的基本框架 时由于入射光的光强发生变化时，内调制微光管输出的受 调制信号会发生一定程度的漂移，设计时引入了一个窗口 微光检测仪的基本框架如图l 所示。在l28Hz 正弦波 电路，窗的大小保证了发生漂移的峰始终在窗口中。这 激励信号作用