氧化锌压敏电阻劣化过程中电容量变化的分析应用 application on capacitance during the degradation of zno varistor.pdfVIP

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2017-08-18 发布于上海
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氧化锌压敏电阻劣化过程中电容量变化的分析应用 application on capacitance during the degradation of zno varistor.pdf

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氧化锌压敏电阻劣化过程中电容量变化的分析应用 application on capacitance during the degradation of zno varistor

高电压技术第36卷第9期2010年9月30日 30。2010 2167 HighVoltageEngineering，V01．36，No．9，September 氧化锌压敏电阻劣化过程中电容量变化的分析应用杨仲江1’2，陈琳1’2，杜志航3，孙涌4 3．西安交通大学电气工程学院，西北京雷电防护装置测试中心，北京100176) 摘要：因目前MOV型SPD劣化检测参数压敏电压U，。^和漏电流JJ。k。不能及时有效地判断MOV劣化程度，故研究一种能考量MOV劣化程度的方法尤其重要。根据影响MOV电容的主要因素以及晶界肖恩特基势垒变化、离子迁移理论等氧化锌压敏电阻的劣化机理，提出了氧化锌压敏电阻劣化过程中必然伴随电容量的变化。在不同的冲击实验下，对MoV型SPD进行劣化实验表明：MOV的电容量均随劣化程度增加而呈现上升趋势；在J。标称值冲击下。MOV电容量随冲击次数近似线性上升。通过实验首次提出了电容量增幅具有考量MoV劣化程度的重要意义，同时证明：结合U，“、JI蛳和电容量3个参数能够更好地分析MOV内部劣化原因。关键词：氧化锌压敏电阻；晶界；劣化；电容；漏电流；压敏电压中图分类号：TM286 文献标志码：A 文章编号：1003-652012010)09-2167-06 on the ofZnOVaristor ApplicationCapacitanceDuringDegradation YANG Linl”，DU Zhong-jian91”，CHENZhi—han93，SUNYon94 of Disasterof of 210044，China； (1．KeyLaboratoryMeteorologicalMinistryEducation，Nanjing 2．Schoolof ofInformation AtmosphericPhysics，NanjingUniversity Nanjing210044，China； ofElectrical 710049，China； 3．College Engineering，Xi’anJiaotongUniversity，Xi’an Centerfor Protective 100176。China) 4．BeijingTesting Sugre Devices，Beijing notbeestimatedand and are Abstract：The ofMOVcan efficientlybyU1．nA degradationdegree timely Jk嶂which thedetection ofMOV-modelSPDinthe iscritical foranewmethodtO parameters current-therefore。itimportant estimatethe ofMOV．Theofthe ofZnOvaristorsis degradationdegree processdegradation necessar