Pt膜温度传感器批量测试、分选系统硬件设计.pdfVIP

第26卷第1期 佳 木 斯 大 学 学 报 (自 然 科 学 版 ) vo1．26 No．1 2008 年 O1月 Journal of Jiamusi University(Natural Scie~ace Edition) Jan． 2008 文章编号：1008一~4o2(2oo8)O1—0004—03 Pt膜温度传感器批量测试、分选系统硬件设计 张 任，丁喜波，唐才荣，江孝林 f哈尔滨理工大学涎控技术与通信工程学院．黑龙江哈尔滨150080) 摘 要：介绍了一套以Pt膜温度传感器为研究对象，使用MSP430作为主控器件的温度传感器 的测试、分选系统的硬件设计．该测试系统集温度传感器工作环境模拟、信号调理、数据采集和数 据分析与管理于一体，具有多通道选择、定点测试和数据传输等功能。 关键词：Pt膜温度传感器；MSP430单片机；测试系统 中图分类号：TP271．5 文献标识码：A ’ 0 引 言 试系统的总体框图如图 所示· 2 系统硬件电路设计 温度是我们日常生活中经常接触的物理量，温 度的检测需要采用温度传感器来进行．在我国，各 2．1传感器的接线方法 行各业对温度传感器的需求量很大，但是测试的低 效率一直是影响产品质量的主要问题【IJ．因此解决 Pt膜电阻值较小，如铂电阻Ptl00在摄氏零度 温度传感器的自动批量测试问题成为提高生产效 时的阻值为10oQ，因此，在传感器与测量仪器之间 率的主要因素．本文针对温度传感器批量测试问题 的引线过长会引起较大的测量误差[2】．本测试系统 进行了研究，介绍了Pt膜温度传感器批量测试、分 一 共有128个单元测量电路，从而实现了传感器的 选系统的组成和硬件设计． 多通道测量．每个单元测量电路都采用四线制接 本文介绍的测试、分选系统能够为用户提供全 法．此种方法可消除因连线过长而引起的误差，所 面的温度传感器测试信息，可以有效地解决批量温 以测量精度较高．具体接线方法如图2所示． 度传感器性能参数快速、准确检测这一传感器企业 亟待解决的问题，为组建类似的检测系统提供了可 ● ● ● ● ● ● ’ ● ● ● ● ● ● ● ● ● 温度源 以借鉴的方法和系统构架． 1 系统的整体方案和工作原理 本系统包括：温度源 信号调理模块部分、单片 机部分及上位机． l垒I 1测试系统总体框l垒I 温度源可以模拟温度传感器的使用环境．在不 同温度时，被测传感器的阻值发生相应的变化．电 R3 子开关实现了对多个传感器的模拟信号进行切换 盈 控制，在电子开关控制下将传感器的模拟信号依次 送给单片机MD输入端口，单片机负责传感器的 辩 ．卜 定时数据采集、预处理、显示等工作，采集的传感器