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apd主被动红外成像读出电路设计 design on infrared readout circuit for apd active and passive imaging
第34卷第6期 电子器件 V01.34No.6
Chin∞e
201 JournalofEli∞t[onDevic∞ Dec.20ll
1年12月
onInfraredReadoutCircuitforAPDActiveandPassive
Design Imaging。
WANG Miao,SONG Baixue,SUN
rifeng,YANG Wenxing,ZHANGWeifeng+
ASIC Research
SyaemEn#neering
(National TechnologyCenter,SoutheastUniversity,Na,,ying210096,China)
onthe of Photodiode characteristicof
Abstract:Based APD(AvalancheDiode),the
operatingprinciple hi【shvoltage
and time cellcircuit wholecircuitofthe
integrationadjustable are andthe
protection techniquesinvestigated.The
Circuit)are circuitcanachieve functionandthe
ROIC(ReadoutIntegrated designed.This high-voltageprotection
switchcircuitcanachieve control havebeenverifiedonthesmall
integral precise function,which array(64ד)
under77K
simulationresults showthatROIChascharacteristicof V).In
chips.The hiighvoltageprotection(17
time time
active Canbe from10nsto150asand Canbe
mode,itsintegration integration delayed
imaging adjusted
from10asto310as.Themaximum canbe than5MHz.
workingfrequencyhigher
and
words:active
Key passiveimaging;APD;linear-mode;ROIC
EEACC:7230Gdoi:10.3969/j.issn.1005-9490.2011.06.014
APD主/被动红外成像读出电路设计木
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