cpld测试方法研究 study of cpld testing.pdfVIP

2010年1月 电 子 测 试 Jan.2010 第1期 ELECTRONIC TEST No.1 CPLD测试方法研究 于明 （集成电路测试技术研究中心 BJAST 北京自动测试技术研究所） 摘要：CPLD是集成电路中最常用的器件之一，CPLD的工艺不断改进，使得它的集成度和工作速度也在不断 增加。因此，对于CPLD的测试变得越来越重要。本文在详细研究CPLD内部结构的基础上，基于“分治法” 的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究，并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试。 关键词：CPLD；测试模式；分治法 中图分类号：TN407 文献标识码：B Study of CPLD testing Yu Ming (Center of IC Test Technology,BJAST,Beijing Intstitute of Auto-Testing Technology,Beijing,100088) Abstract:Among all the elements，CPLD（Complex Programmable Logic Device）is one of the widest used chips． The technics of the CPLDS is so improved that its integration degree and the working speed is gradually enhanced.As a result,the research of CPLD testing becomes more and more important.Based on a detailed analysis of the architechture of CPLDs,this dissertation gives out a technology to test CPLDs and a testing platform for the testing of actual CPLD devices. Keywords: CPLD；testing platform；detailed analysis 0 引言 路对 CPLD 的测试理论和方法做探索性研究。 本文的研究基于集成电路测试系统 BC3192V50 CPLD（Complex Programmable Logic Device） 环境下进行。在该系统所提供的资源范围内进行的 是一种可编程器件，它的出现使得新产品的开发周 CPLD 测试开发和测试方法研究工作。BC3192V50 期大大缩短，开发成本得到节省。随着 CPLD 被 测试系统是由北京自动测试技术研究所研制开发的， 广泛应用到各个领域，对其准确性和可靠性的要 基于当前国际先进 VXI 总线的数模混合集成电路测 求也变得越来越高。所以，对 CPLD 器件故障的 试系统 。适于大容量、多管脚的可编程芯片测试。 检测和诊断方法技术的研究就显得尤为重要。本 本文主要目的是通过基于 BC3192V50 测试系 文 正 是 针 对 上 述 问 题， 以 Altra MAX7000 系 列 统，对 CPL