数理统计在材料科学晶体学中应用.docVIP

数理统计在材料科学晶体学方面的应用 1超细晶材料简介 固体材料的强度是指固体材料抵御永久变形和断裂的能力。塑性变形作为一种永久变形，其机制为滑移和孪生，其中以滑移为主。滑移的本质为位错的运动，可知阻碍位错运动可以提高材料的强度。而高韧性又要求材料具有良好的塑性，能促进位错运动以抵御裂纹萌生。强度和韧性之间有着看似不可调和的矛盾，实际不然。1886年，美国的霍尔（C.Hall）和法国的赫劳尔特（P.L.heroult）提出的霍尔—佩奇（Hall-Petch） （1.1） ——屈服强度 ——常数，晶格摩擦力 ——正的常数 ——晶粒直径 由公式（1.1）可以看出，材料的屈服强度随晶粒尺寸的降低而增大。同时晶粒越细小，晶界总面积越大，位错密度越高，塑性也越好。因此细化晶粒是一种理想的提高材料力学性能的手段，也吸引了大批材料工作者的关注和研究。 超细晶材料一般是指晶粒尺寸在0.1~1 μm的材料，晶粒尺寸小于100 nm的材料称为纳米材料。在已有的超细晶材料材料制备工艺中，制备的晶体材料晶粒尺寸往往差别很大，同一块晶体材料内部晶粒尺寸也不会完全一致，这限制了超细晶材料发挥高强高韧的特点。在本文中，我们选取已测量的一组超细晶材料尺寸，运用数理统计的方法，确定材料的晶粒尺寸范围。 2运用数理统计确定晶粒尺寸和最优工艺 在一个用等通道转角盘挤压ECAP方法制备的超细晶铝材中在金相显微镜下选取十个晶粒，已知晶粒尺寸分布符合正态分布。其晶粒尺寸测得如下： 编号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 尺寸(μm) 15 17 18 18 20 15 16 18 19 15 用95%的置信度估计这个超细晶铝材的的平均晶粒尺寸。 依据实验数据和晶粒尺寸符合正态分布，，我们可以把这种情况归为σ2未知，求解μ的置信区间。 计算样本的平均晶粒尺寸E和方差S： E=（15+17+18+18+20+15+16+18+19+15）/10=17.1 S==1.7 因置信度1—α=0.95，故α=0.05，查t分布表得t0.975（9）=2.26，故晶粒平均尺寸μ 95%的置信区间为: （E—，E+) =(17.1—,17.1+)=(15.28,18.38) 所以我们得出结论：以95%可靠度认为这块超细晶铝材的平均晶粒尺寸在15.28~18.38之间。 （2）采用另一方法，惰性气体蒸发冷凝法（IGO）制备的另一块超细晶铝材，选取十个晶粒为样本，测得晶粒尺寸如下： 编号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 尺寸(μm) 16 18 15 19 19 21 17 15 15 17 比较两种制备方法，无法从数据上直观的得出那种制备方法更好（根据霍尔—佩奇公式，我们认为晶粒平均尺寸μ 越小，工艺越优秀），可以运用数理统计的方法确定最佳工艺。 首先假设两种制备工艺正态总体方差齐性H0：σ1=σ2 ； H1：σ1≠σ2 样本2平均值E2=17.2 方差S2=1.93 依据μ1，μ2未知，检验方差或 ==0.76，在置信度为95%的情况下。1—α=0.95，故α=0.05，查表得 F0.975（9,9）=2.44，F0.025==0.41 所以F0.025（9,9）F0.975（9,9）可以接受H0，认为σ1=σ2 。 在此基础上，我们可以检验H0：μ1—μ2=0 ； H1：μ1—μ20 检验方法为 计算得==－－－1.7341－－μ1—μ2=0 ，即认为两种超细晶材料制备方法无显著差别。 总结： 数理统计作为一种数学工具，可以运用于生活，学习，科研的方方面面。本文讨论了数理统计在晶体学中的一些应用，举例说明了数理统计在确定晶粒尺寸空间，选取最佳工艺方面的应用，其结果并不唯一，跟据实际实验数据，置信水平等不同的选取，可以得出相应的结果。 1