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ic器件热特性评价方法研究 study on evaluation method for the heat characteristics of ic devices
电子机械工程 2008年第24卷第1期
No.1
18 Electro—Mechanical 2008.V01.24
Engineering
IC器件热特性评价方法研究。
周德俭m,黄红艳2,彭开强2
(1.广西工学院,广西柳州545006;2.桂林电子科技大学,广西桂林541004)
摘要:在IC器件的热设计中,传统的单参数变化热分析评价方法忽略了各个参数的相互影响和共同
作用,没有进行多参数综合优化设计,难以适应高密度Ic器件结构多参数相互影响和共同作用、热可靠
性要求高的实际情况与设计要求。文中以QFP器件为例,研究将正交实验法与表面响应法结合的分析
方法应用于Ic器件的热特性分析评价。该方法能综合考虑各设计参数对IC器件封装热性能的共同作
用,从而实现多参数综合优化热设计,是一种较理想实用的IC器件热特性评价和热设计方法。
关键词:热分析;正交实验法;表面响应法;IC器件
中图分类号:TN305.94文献标识码:A 文章编号:1008—5300(2008)01—0018—05
f
箩
onEvaluationMethodfortheHeatCharacteristicsofICDevices
Study
ZHOU
De-jianl”,HUANGHong-yah2,PENGKai·qian92
Unive瑙ity 545006,China)
(1.GuangxiofTechnology,Liuzhou
Electronic Guilin
(2.Guilin 541004,China)
Universityof Technology,
thethermal of traditional
Abstract:In designIC(integratedcircuit)devices,thesinglevaryingparameterap·
methodforthermal has themutualinfluenceandinteractionbetween
praisal analysisignored parameters.
Withouta and itdoesnotmeetthe and de—
multi—parametersyntheticaldesignoptimization,now realitydesign
interaction
mand that ICdeviceworkswiththe influenceand and
high
anylonger density multi—parameter high
heat thi
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