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ic内置熔丝熔断方法 ic fuse blowing method

第8卷,第7期 电子与封装 总第63期 Vbl.8.No.7 2008年7月 ELECTRONICS&PACKAGING 电 路 设 计 IC内置熔丝熔断方法 陆强,孙明 (无锡华润矽科微电子有限公司,无锡214061) 摘要:集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求。低成本、高灵活性的熔丝结 构由此得到了大范围的应用。熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加。在编写测试软 件时,传统方法是机械地用if...else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差。文章在总结传统 测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断Ic内置熔丝的新方法。通过寻找实际测 量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2”的熔丝熔断分析缩减至咒次熔丝熔断分析。这种做法 使程序简洁而又逻辑性强。 关键词:测试程序;熔丝熔断;可编程逻辑电路 中图分类号:TN402 文献标识码:A Fuse Method IC Blowing LU Qiallg,SUNMing C话f胛以RPsD“,℃PJ.跆,nfcD^衙c,.DPf已cf,.D,lfcs (V№f Cb.,L耐,V}乞忧f214061,C讫i,zn) and Abstract:The of circuitneeds and cost high deVelopmentintegrate highprecisionprogrammable.Low fusestlllctureICis offuse method withmenumbersof nexible well—used.Analysis锄ounta由usting goesup use roteintraditional maketest fuse if…else progmmming,welanguageby method,this exponentially.While andunreadable.This anewfuse methodwhichblowfuse and pmgramlong paperpresent blowing exactly basedonthetraditional themlebetweenrealtestresultand fuse, ef亿ctively method.Byfinding corresponding wereducethe f而m2”ton.Thismakestest concisionand analysis锄ount progmm stronglogicali哆. w

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