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ic内置熔丝熔断方法 ic fuse blowing method
第8卷,第7期 电子与封装 总第63期
Vbl.8.No.7 2008年7月
ELECTRONICS&PACKAGING
电 路 设 计
IC内置熔丝熔断方法
陆强,孙明
(无锡华润矽科微电子有限公司,无锡214061)
摘要:集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求。低成本、高灵活性的熔丝结
构由此得到了大范围的应用。熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加。在编写测试软
件时,传统方法是机械地用if...else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差。文章在总结传统
测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断Ic内置熔丝的新方法。通过寻找实际测
量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2”的熔丝熔断分析缩减至咒次熔丝熔断分析。这种做法
使程序简洁而又逻辑性强。
关键词:测试程序;熔丝熔断;可编程逻辑电路
中图分类号:TN402 文献标识码:A
Fuse Method
IC Blowing
LU
Qiallg,SUNMing
C话f胛以RPsD“,℃PJ.跆,nfcD^衙c,.DPf已cf,.D,lfcs
(V№f Cb.,L耐,V}乞忧f214061,C讫i,zn)
and
Abstract:The of circuitneeds and cost high
deVelopmentintegrate highprecisionprogrammable.Low
fusestlllctureICis offuse method withmenumbersof
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use roteintraditional maketest
fuse if…else
progmmming,welanguageby method,this
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