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lab6电子枪的kramers-heisenberg散射与fermi分布 kramers-heisenberg scattering and fermi distribution in lab6 electron gun

光电子·撒光 第18卷第4期2007年4月Journal V01.18 No.4Apr.2007 ofOptoelectronics·Laser ·光电子器件和系统· 尹 明h”,逄明祥2 (1.山东大学控制学院电子束室,山东济南250061;2.山东科技大学信息与电气工程学院,山东青岛265510) 础,加速电压为30kV,通过双曲凹面加速器维纳尔(外敷碱土金属氧化物盖)使电子送达Si片靶心(置于光栏 前),讨论了维纳尔的电子轨迹与电子枪发射电子的Fermi分布,给出了测量LaB6电子枪分辨率的方法。与考 虑了系统像差影响的理论计算结果进行比较,两者的最后结果基本一致。 关键词:电子束;散射;近轴轨迹;失真;分布 中图分类号:TN305.7文献标识码:A 文章编号:1005—0086(2007)04—0385—04 in andFermiDistributionElectronGun Kramers-Heisenberg LaK Scattering YIN Min91~,PANGMing-xian92 (1.Contr.Sci.and School LaboratoryJinan of Engineerin49ShandongUniversity,E-beam 250061,China;2.College and InformationandElectrical ofScience 265510,China) Engineering,ShandongUniversity Technology,Qingdao Abstract:InhB6electron andFermidistributionare ontheelectron gun,Kramers-Heisenbergscattering analyzeBased ofSD孓3electronbeam machine。whenthe is30kV。the thattheelectron gun lithography acceleratingvoltage requirements and distributionmustberealizedforconcave accelerator trajectoriespotential hyperboloidWehnelt(oxide-coatedcover)of arediscussed.E1ectronsfromthe willbeaccelerateda andreacha ofsilicon the gun by11ighvoltage target piece(Frontap— erture)viathe newmethodtomeasuretheresolutionof electronis measurement Wehnelt.Finally,a LaB6 gunreported.The resultsare thesametheoreticalcalculation.

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