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§2-2 射线探伤设备 一、射线源的种类： 名称 半衰期 能量（EeV） 60 钴60 5.3年 1.17～1.33 2～3 1.2 40～200 Cs137 铯137 33年 0.662 0.6～1.5 0.65 15～100 Ir192 铱192 74天 0.136～0.68 0.3～0.8 0.5 20～100 Tm170 铥170 128天 0.084 0.052 0.1～0.3 0.1 3～20 Se75 硒75 120天 0.226 01-0.26 10～40 射线探伤设备在工业探伤中广泛应用，具有轻便、穿透力强的特点，用贫化铀代替铅作防护容器，大大减轻了设备的重量和体积。 二、射线探伤装置： 四部分组成：1、射源：放射性同位素：常用Ir192； 2、保护缸：用贫化铀制成（或铅）； 3、操作机构：有机械、电动两种； 4、支持装置。 三、射线探伤设备的优缺点： 1、优点：①探测厚度大，穿透力强； ②体积小，重量轻，不用电、水，适用于野外； ③效率极高，可周向、全景曝光，成本低； ④设备故障率低，价格低； ⑤可连续运行，不受温度、压力、磁场等外界影响。工艺稳定，可操作性好。 2、缺点：①有一定的半衰期； ②能量固定，无法根据试件厚度调节； ③强度随时间减弱，使曝光时间受到制约； 　　　　　④其灵敏度低于Ｘ射线机，固有不清晰度大，需要通过选择胶片系列提高灵敏度； ⑤安全防护要求高，管理严格。 四、硒75 ，Se75射线源特性 Se75由Se74在核反应堆俘获中子得到的，其半衰期为120.4天。平均能量0.206MeV即200KeV相当于200KV的X射线机，能谱线有9根主要是两根136KeV和264KeV。 Se75原子质量数75，其中质子数34，中子数41。 SeSeAs（砷） Se75源半衰期为120.4天比Ir源长的多（74天）且γ射线衰变常数低，不到Ir源的一半，能谱较软，操作防护区域小，较易保证安全。比活度大，源的焦点可以做的较小（灵敏度高）。所以更适用于薄板焊缝照相。近年来国内在管道拍片中应用日益增多，欧洲及国内电力系统已将其列入标准。此次将Se75列入JB/T4730-2005标准中，并对其使用范围作了相应规定 （10-40㎜）①中心透照法允许≥5㎜ ②其它透照方式需经合同各方同意≥5㎜，对双壁单影或双壁双影则≥2.5㎜。 §2-4 射线探伤器材 感光度100则曝光量K==0.01（例富士100，天Ⅲ属T类） 感光度80则曝光量K==0.0125（例富士80，天Ⅱ属T类） 80的曝光量要大于100的曝光量 感光度就是感光速度，100的感光度大于80的感光度。 射线胶片系统分为四类即T1、T2、T3、T4类， T1为最高类别，即感光速度低、颗粒度细，灵敏度高（梯度大）。T4为最低类别。当采用γ射线对裂纹敏感性大的材料或不能满足AB级技术要求时，可选用更高类别的胶片。A、AB级采用T3及其以上，B级采用T2及其以上类别。 胶片的本底灰雾度应不大于０.３。 目前工业用射线胶片分类 胶片类型 感光速度 感光乳剂粒度 常见胶片牌号 T 低 微粒 AgfaD、D；富士LX-25 T 较低 细粒 AgfaD、D；富士50、80；天Ⅴ型 T 中 中粒 AgfaD、D；富士100；天Ⅲ型 JB/T4730-2005引用JB/T7902-1999《线型象质计》同时引用 航天部：HB7684-2000《射线照相用线型象质计》增加了小于0.100mm的丝，即17号：0.080mm；18号：0.063；19号：0.050mm Ⅰ 1～7；Ⅱ 6～12；Ⅲ 10～16 金属丝直径从3.2～0.1 规律：1是7的四倍；6是12的四倍；10是16的四倍 1是4的二倍；6是 9的二倍 ；1是13的二倍 新标准增加了小于0.10㎜的钢丝以满足厚度下限（2mm）AB级和B级的像质指数的要求。 Ⅰ 1～7；Ⅱ 6～12；Ⅲ 10～16；Ⅳ 12～18 4、象质计的摆放 原则：单壁透照象质计应放置在源侧，被检区一端（位置），金属丝横跨焊缝，细丝置于外侧。双壁单影透照象质计放置在胶片侧。双壁双影透照象质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。当单壁透照时象质计无法放置源侧，允许放置在胶片侧。但应放置“F”作为标记，并做对比实验。新标准对此有明确而严格的技术要求。 “无法放置”是指爬行器透照管子、球罐γ射线全景曝光。 而查找象质计灵敏度时，则