试验一门电路逻辑功能测试及逻辑变换.DOC

实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换 一．实验目的： 1.掌握集成门电路的逻辑功能及测试方法。 2.掌握集成门电路的逻辑变换。 3.熟悉数字电路实验箱、数字万用表、双踪示波器的使用方法。 二．实验仪器及器件： 1. TPE—D6Ⅲ 型数字电路实验箱 1台 2.双踪示波器 1台 3.数字万用表 1块 4.器件： 74LS20 双4输入与非门 1片 74LS04 六反相器 1片 74LS86 四2输入异或门 1片 74LS00 四2输入与非门 1片 三．实验预习： 1.复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。 2.查出实验所用集成电路的外引脚线排列图，熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。 四．实验原理： 1.测试门电路的逻辑功能有两种方法： （1）静态测试法：就是给门电路输入端加固定高、低电平，用万用表、发光二极管等测输出电平。 （2）动态测试法：就是给门电路输入端加一串脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的关系。 2.门电路的逻辑功能： （1）与非门的逻辑功能：有0出1，全1出0。 与非门的逻辑函数式：Y=AB 74LS20为双4输入与非门, 即在一块集成块内含有二个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端。如图1.1.1所示。 （2）非门的逻辑功能：有1出0，有0出1。 非门的逻辑函数式：Y= A 74LS04为六反相器, 即在一块集成块内含有六个互相独立的非门, （3）异或门的逻辑功能：相同出0，相反出1。 异或门的逻辑函数式：Y=A⊕B=AB+AB 74LS86为四2输入异或门，即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。如图2.1.1所示。 图1.1.1 3.门电路的逻辑变换：就是用与非门等组成其它门电路。 方法：先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式，再画出相应逻辑图，然后用与非门实现之。 五．实验内容： 实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择实验用的集成电路，按接线图连线。特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后经指导教师检查无误方可通电。实验中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验。 1.用静态法测试门电路的逻辑功能 (1)测出双4输入与非门74LS20的逻辑功能： 按图1.1.2接线，二个输入端A、B接电平开关（K1～K16中任选二个）, 另二个输入端悬空，输出端Y接一个电平显示灯（L1～L16中任选一个）。将电平开关按表1.1.1置位，分别测出输出逻辑状态和输出电压填入其中。 表1.1.1 输 入 输 出 A B Y 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 图1.1.2 (2) 测试74LS04六非门的逻辑功能 将74LS04正确，注意识别1脚位置，按表.2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。表.2 74LS04逻辑功能测试表 2输入异或门74LS86的真值表： 按图1.1.3接线，输入端A、B接电平开关，输出端Y接电平显示灯，分别测出各种输入状态下的输出状态和输出电压，填入表1.1.3中。 图1.1.3 表1.1.3 输 入 输 出 A B Y 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 2.门电路的逻辑变换 (1)用与非门构成或门，测出其真值表加以验证： 用一片四2输入与非门74LS00构成或门Y1=A+B=，画出逻辑电路图，并在图中标明芯片引脚号，按图接好线后，测试并填入表2.1.4中。 表1.1.4 输 入 输 出 A B Y1 电压(V) Y2 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 (2)用与非门74LS00和74LS04构成同或门： 将同或门函数式转化为与非门函数式Y2，画出逻辑图，并在图中标明芯片引脚号，按图接线，测试并填入表1.1.4中。 3.用动态法测试与非门的控制作用 用一片74LS00按图1.1.5接线，一个输入端K接任一电平开关，另一个输入端输入连续脉冲(f=1KHZ)，将K分别置1和置0，用示波器同时观察输入与输出信号，画出其波形于表2.1.5中，分析K对输出脉冲的控制作用。（或将连续脉冲改为f=1HZ，用LED指示灯同时观察输入、输出现象） 图1.1.4 K