基于嵌入式系统产品的ict工装设计 the design of ict device based on embedded system product.pdfVIP

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2017-08-21 发布于上海
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基于嵌入式系统产品的ict工装设计 the design of ict device based on embedded system product

测试测量技术基于嵌入式系统产品的IcT工装设计 ofICTDeVicebasedonEmbedded The Product Design System 蔡春水(福建新大陆电脑股份有限公司，福建福州35()015) cai N删land Fl曲伽350015) Ch帅一·hⅢ(Fuji丑|IC砌Pulerco，hd，FujialI 摘要：文章介绍了基于嵌入式系统产品的IcT(If-ci”uifteet)自动在线测试T装设计。lcT丁装使制造过程有r质量口『控的r其。IcT‘r装在A公司各类嵌入式系统产品上广泛应用，不仅提升r生产测试效率，而且制造质量得到明显提升。关键词：IcTT装：制造质量；嵌入式系统产品中图分类号：下N806 文献标识码：B 文章编号：J003加J07(2()09)Jl埘1J—04 lhe ofICTdeviceba8edonembedded ^b—r毗Th喀pap日in仃odL·cesdesIgn sy8temproduct．1CTdevice却eusefUquaI叶 lcT kmds0f of oontrdl∞18abou|manufactu怕pro∞ssdevIce·sapphedwldeIylnalI embeddedsystemproducIAoⅢ1panylr-晴 whlch tesI manufacture only Improveprcductemc旧1cy．butaJ∞『mproVe qua¨tyobVIou8ly Product C『rcunT∞1)DevlceManufactureouaI吼Embeddedsysfem K州wor出：lCT(In CLCnumb·cn惦∞Docu巾_n∞dEB山曲o：1003—010“2∞9)”一∞”—04 1引言 1)电源芯片的检测：由逻辑分析仪向板供电．直接检测各电源器件各点输出的电压值。产品质量是由设计质量、部品质量、制造质量构成，此三 2)普通元器件检测：由逻辑分析仪在不同的激励点分时者缺一不可，在嵌入式系统产品的生产制造过程中。产品稳定性和一致性是构成制造质量很重要的因素，但往往缺乏一个回放输出不同的激励信号，在相应不同的测试点进行采样并分析。有效的工具和手段来检查它是否正常，因而也成为困扰A公司产品制造质量提升的一个重大问题。为此A公司自主开发 3)有主控芯片(CPU或MCU)的电路板： Circuit ·由CPu运行相应的ICT配套程序对其周边的高速外围出板卡级的高性价比ICT(InTest)自动在线测试工装用于制造过程大批量生产测试工具。设备(例如高速存储器、usB芯片、网卡芯片、调制解调器芯片 ICT(InCi