e7%bb%a7电器触点的失效模式及失效机理研究.pdfVIP

第27卷第5期 贵州大学学报(自然科学版) V01．27No．5 0f 0ct．2010 2010年lO月 Jol唧a1Guizll叫uIliVe巧蛔(NaturalScience8) 文章编号1000一5269(2010)05—0047一04 密封继电器触点的失效模式与失效机理研究 张富贵·，陈迸勇，张柯柯 (贵州大学机械工程学院，贵州贵阳55∞03) 摘要：文章综述了密封继电器触点的常见失效模式，包括电弧侵蚀、粘接、熔焊、金属迁移、污染 电流等；分析了各种失效模式的形成机理；最后阐明要提高密封继电器的可靠性，在密封继电器 的设计、生产、使用过程中应采取的措施。 关键词：密封继电器；金属迁移；失效模式；失效机理；污染电流 中图分类号：’IM581．3文献标识码：A 密封继电器由于其体积小、重量轻、价格合理 引而结合的现象。如果相互接触