光纤光学-光纤损耗.ppt

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光纤光学-光纤损耗

第三章 外界因素引起的光纤系统的损耗 主要内容 弯曲引起的光纤损耗 光纤和光源的耦合损耗 多模光纤和多模光纤的直接耦合损耗 单模光纤和单模光纤的直接耦合损耗 弯曲损耗 弯曲造成的辐射损耗 当光纤受到很大的弯折,弯曲半径与其纤芯直径具有可比性时,它的传输特性会发生变化。大量的传导模被转化成辐射模,不再继续传输,而是进入包层被涂覆层或包层吸收,从而引起光纤的附加损耗。 光纤的弯曲损耗有以下两种类型。 宏弯损耗 微弯损耗 如果光纤弯曲的曲率半径太小,将引起光的传播途径的改变,使光从纤芯渗透到包层,甚至有可能穿过包层向外渗漏。在正常情况下,光在光纤里沿轴向传播的常数卢应满足:n2k0 β n1k0。当光纤弯曲时,光在弯曲部分中进行传输,要想保持同相位的电场和磁场在一个平面里,则越靠近外侧,其速度就会越大。当传到某一位置时,其相速度就会超过光速,这意味着传导模要变成辐射模,所以,光束功率的一部分会损耗掉,这也就意味着衰减将会增加。 宏弯损耗 光纤的曲率半径比光纤直径大的多的弯曲(宏弯)引起的附加损耗,主要原因有:路由转弯和敷设中的弯曲;光纤光缆的各种预留造成的弯曲(预留圈、各种拿弯、自然弯曲);接头盒中光纤的盘留、机房及设备内尾纤的盘绕等。 弯曲损耗的利用 (1)模式过滤器:过滤就是对高级模式的去除,只要弯曲一下,光纤就可以作为模式过滤器。 (2)衰减器:衰减器是在控制状态下减少传输功率的装置。有一类衰减器只要将用于传输的光纤转几圈就可以了,根本不需要引入外部器件,使用这种衰减器,可以通过控制光纤以给定的半径所转的圈数来控制衰减量。 (3)熔接机:使用弯曲损耗来控制熔接质量。熔接是通过将光纤的端面熔化后将两根光纤连接在一起的过程,这个过程与金属焊接过程类似。 (4)光纤识别仪:光纤识别仪是一种利用光纤弯曲效果的仪器。当将一根光纤弯曲时,有些光会从光纤中辐射出来,这些光就会被光纤识别仪检测到,在不切断光纤、不中断通信的条件下,技术人员根据这些光可以将多芯光纤或单根光纤从其他光纤中识别出来,并检测光的状态及方向。大多数的光纤识别仪用于波长为1310 nm或1550 nm的单模光纤光缆。 微弯损耗 光纤轴产生μm级的弯曲(微弯)引起的附加损耗,主要原因有:光纤成缆时,支承表面微小的不规则引起各部分应力不均匀而形成的随机性微弯;纤芯与包层的分界面不光滑形成的微弯;光缆敷设时,各处张力不均匀而形成的微弯;光纤受到的侧压力不均匀而形成的微弯;光纤遇到温度变化,因热胀冷缩形成的微弯。 微弯损耗在检测与自控技术中的应用 (1)光纤微弯及多圈螺旋式传感器 光纤微弯可有多种弯曲变形形式,当被测物受到外界影响时,光纤发生弯曲变形,通过检测光纤内传输的光功率变化量而定出被测量。为了提高灵敏度,将微弯曲传感光纤做成多圈螺旋管状,图2所示是一种小位移微弯传感器结构,位移较小时,测量板的位移量与光纤传输的光功率变化基本上成线性关系。 (2)齿条式传感器 3)结合OTDR,利用微弯损耗可以准确找出光纤接续点,确定光纤序号,判定高损耗点等。 光纤和光源的耦合损耗 光源: 半导体激光器 LD 半导体发光二级管 LED 耦合方法: 直接耦合 加透镜耦合 半导体激光器 发光特点 半导体激光器的发光区是窄条形的发光区域,它的发光区域很薄,只有大约0.3 μm。半导体激光器的发光强度在其谐振腔内中的谐振腔外部的空间按一定的规律分布。半导体激光器发射的光束的强度分布在空间上是不对称的,它所发射的光的远场图形是一种细长的椭圆形 。 直接耦合 直接将光纤靠近光源,由光纤接收光源发出的光。 发光二极管 发光二极管的特点: 输出光功率较小;谱线宽度较宽;调制频率较低;性能稳定,寿命长;输出光功率线性范围宽;制造工艺简单,价格低廉;适用于小容量短距离系统  光纤和光纤的直接耦合损耗 多模光纤和多模光纤的直接耦合损耗 单模光纤和单模光纤的直接耦合损耗 多模光纤和多模光纤的直接耦合损耗 五种会影响损耗的情况: 轴偏离 两光纤端面之间的间隙 两光轴之间的倾斜 光纤端面的不完整性 光纤种类不同 单模光纤和单模光纤直接耦合的损耗 与多模光纤的主要差别: 对多模光纤其端面光功率分布视为均匀分布,而对单模光纤其端面光功率则视为高斯分布。 几种影响损耗的情况: 两光纤的离轴和轴倾斜 两光纤端面间的间隙 不同种类的光纤 * 典型半导体激光器的远场辐射特性和远场图样 (a) 光强的角分布; (b) 辐射光束 LD 和LED的区别 LD发射的是受激辐射光 LED发射的是自发辐射光 LED的结

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