半导体器件物理10.ppt

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半导体器件物理10

* § 2.3 晶体管的电流放大原理 晶体管工作在正向有源模式下( , )具有放大电信号的功能,这是晶体管最主要的作用。单个 PN 结只具有整流作用而不能放大电信号,但是当两个彼此很靠近的 PN 结形成晶体管时,两个结之间就会相互作用而发生载流子交换,晶体管的电流放大作用正是通过载流子的输运体现出来的。 1.平衡晶体管的能带 在晶体管的三个端不加外电压时(即平衡状态下),晶体管具有统一的费米能级,其能带和载流子的分布如图所示。 2.正向有源模式下的能带 晶体管处于放大模式下的能带和少子分布如图所示。 由于发射结正偏,势垒降低了 ,电子将从发射区向基区注入,空穴将从基区向发射区注入,基区出现过量电子,发射区出现过量空穴。过量载流子浓度取决于发射结偏压的大小和掺杂浓度。当基区宽度很小(远远小于电子的扩散长度)时,从发射区注入到基区的电子除少部分被复合掉外,其余大部分能到达集电结耗尽层边缘。集电结处于反向偏压,集电结势垒增加了 。来到集电结的电子被电场扫入集电区,成为集电极电流。这个注入电子电流远大于反偏集电结所提供的反向饱和电流,是集电极电流的主要部分。如果在集电极回路中接入适当的负载就可以实现信号放大。 基区宽度很窄是晶体管实现放大作用的必要条件之一。如果基区较宽(大于电子扩散长度),注入到基区的过量电子在到达集电结之前被复合殆尽,此时晶体管是两个背靠背的 PN 结,不可能有放大作用。 下图表示处于放大状态的 N+PN 晶体管内的各电流分量。发射极和基极处于输入回路,基极和集电极处于输出回路,基极作为公共端,这种连接方法称为共基极接法。 3.电流分量 (1)发射极电流 发射极电流 主要由三部分组成: 从发射区注入到基区中的电子扩散电流 ,这股电流大部分能够传输到集电极,成为集电极电流 的主要部分 从基区注入到发射区的空穴扩散电流 ,这股电流对集电极电流 无贡献,且还是基极电流 的一部分 发射结空间电荷区耗尽层内的复合电流 ,这部分电流很小,根据假设通常不考虑 (2)基极电流 基极电流 由四部分组成: 发射结正偏,由基区注入到发射区的空穴扩散电流 基区复合电流 ,它代表从发射区注入基区的电子与基区空穴复合形成的电流 发射结空间电荷区耗尽层内的复合电流 (很小忽略) 集电结反偏的反向饱和电流 ,这部分电流是由少子的漂移形成,通常要比 和 小很多 (3)集电极电流 集电极电流 主要有两部分: 扩散到集电结边界的电子扩散电流 ,这些电子在集电结电场作用下输运至集电区,它是一股反向大电流,是集电极电流 的主要部分 集电结反向饱和电流 。 可见,总的发射极电流 等于到达集电极的电子电流 和通过基极流入的空穴电流 之和。一只好的晶体管, 与 十分接近,而 很小。 4.晶体管的直流电流-电压关系 (1)求 是从发射区注入到基区的电子在基区扩散形成的电流。根据假定,基区宽度( )远小于少子电子在基区中的扩散长度 ,则少子电子通过基区由于复合而损失的那部分很小,基区电子可近似看成线性分布(如图中虚线)。 可得基区电子线性分布函数为: 中性基区边界 处和 处电子浓度分别为: ① 当 较大时 可得基区电子线性分布函数为: ② 当 较小时 中性基区边界 处和 处电子浓度分别为: (2)求 是由基区注入发射区的空穴扩散电流。在发射区,少子空穴浓度呈指数分布,且发射区宽度远大于少子扩散长度,所以可直接用 PN 结理论进行处理 少子空穴浓度的边界条件为: 在发射区内,少子空穴的稳态扩散方程为(一维): (*) 注入发射区的空穴扩散电流为: 解方程(*),得: :发射区空穴扩散系数 :发射区空穴扩散长度 其中 (3)求 是由发射区注入基区中的电子与基区中的空穴复合形成的电流,等于单位时间内基区中复合的电子数与电子电荷量之积,或者说单位时间内基区中复合的总电子电荷量,即: ( 为基区中电子寿命) 在基区很窄、电子分布为线性的假设下,基区中积累的注入电子总数,大致等于载流子线性浓度分布曲线下的面积,即: 所以得: (4)求 是由于集电结反偏,少子漂移形成的反向电流,它由电子漂移电流

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