晶体光学000.ppt

（三）消光角的测定： 1．选择切面； 一轴晶及斜方晶系：多为平行消光，不测消光角。 单斜晶系：一般选∥（010）切面，测最大消光角（单斜角闪石、单斜辉石），具最高干涉色。 三斜晶系：选特殊方向的切面，如斜长石，常测 ⊥（010），⊥a轴等切面上的消光角。 2．置矿片于视域中心，转物台，使缝等∥十字丝，记刻度。 3．转物台，使矿片消光，记刻度，两次读数之差即消光角。 4．定半径名称：转置450位，插试板定Ng’ 或Np’，特殊切面可定Ng ,Np。 5．据解理、双晶判断其所代表的结晶方向：主要根据结晶学知识，如单斜角闪石、辉石解理（110），在多数切面上，解理缝∥Z轴，斜长石⊥（001）切面上，平行（010）解理缝，双晶缝只代表（010）晶面方向。 6．记录：普通辉石； Ng∧Z＝48o , or Ng’∧Z＝40o 斜长石：Np’∧（010）＝20° 五、? 晶体延性符号的测定 长条状矿物切面的延长方向与光率体椭圆切面的长半径（Ng ,Ng’）平行或其夹角小于45o为正延长（延性）。若与其短半径（Np ,Np’） 平行或其夹角小于45o则为负延长（延性）。 （一）测定步骤： 1．斜消光矿片：测消光角即可。 2．平行消光矿片： ①先置矿片延长方向于45o位。 ②插试板，据干涉色升降定出与其延长方向一致的是Ng’ ,或Np’，即可定出延性。 （二）延性与光性方位的关系 1．Ng∥Z晶轴，则平行Z轴的切面均为正延性； 2．Np∥Z晶轴，则平行Z轴的切面均为负延性； 3．Nm∥Z晶轴，延性可正可负，视切片方向而定。斜消光为45o时，延性正负不分。 六、? 双晶的观察 1．正交镜下的双晶： （1）一般情况下，相邻单体不同的消光，（椭圆半径方位不一致），呈一明一暗，单体结合面称双晶结合面，结合面与薄片平面的交线称双晶缝，与解理缝一样，如果双晶结合面与薄片平面法线一致，双晶缝细而清晰，斜交则变宽而模糊。 （2）当双晶结合面与薄片平面法线一致，将双晶缝平行十字丝，或置于450位，双晶缝两侧单体明亮程度一致，此时看不到双晶。（光率体椭圆切面在双晶面两侧是对称的）。 2．双晶类型： （1）简单双晶；两单体，一明一暗，转物台，明暗互换。 （2）复式双晶：两个以上单体。 聚片双晶：双晶结合面彼此平行，可有奇偶两组单体，轮换消光。如斜长石、钠长石聚片双晶； 联合双晶：双晶结合面不平行，可有三、四、六连晶，堇青石的三连晶、六连晶等。 条纹长石 卡氏双晶 正长石 卡氏双晶 微斜长石卡氏双晶和格子双晶 斜长石格子双晶 斜长石聚片双晶 第二篇 岩浆岩 2．四次消光： 现象：旋转物台360度，矿片四次变黑暗。 原因：光率体切面为椭圆，一般情况下光波通过时发生双折射。形成两种分别沿长短半径振动的偏光。但当PP（AA）平行矿片半径之一时，PP光通过矿片后不发生双折射。仍沿PP振动，不能分解到AA上，故不能通过，360度之间共有四次。 小结： 全消光：均质体，⊥OA 四次消光：非均质体， 非⊥OA , 当椭圆半径∥AA（PP） 三、消光位： 非均质体除⊥OA以外切面（四次消光者）在正交偏光镜间发生消光时的位置称消光位。此时光率体椭圆半径必定与AA或PP平行。但究竟是长半径平行PP还是短半径平行PP，则不一定。（下面章节解决）。据此可以判断椭圆半径方向。（与光性方位联系） 第三节 正交偏光镜间的干涉现象 非均体椭圆切面半径与AA, PP 平行时产生消光，当二者斜交时，则产生干涉。 一、? 光波在正交镜间的行进分解（非均质体、非消光位） 1．通过下偏光：→PP方向振动。 2．进入矿片：第一次分解，双折射形成K1， K2，分别沿椭圆切面半径振动。K1长，K2短。二者n值不等（Nk1＞Nk2），V不等。K1，慢光，K2，快光。形成光程差R。 3．进入上偏光：再次分解，形成K1＇、K1＇＇；和K2＇、K2＇＇ ，其中K1＇＇和K2＇＇⊥AA，不能通过。K1＇和K2＇则平行AA，可以通过。 二、? K1＇和K2＇的干涉条件 1．K1＇和K2＇频率相等。（原为同一束偏光）。 2．K1＇和K2＇有固定程差。（由K1、K2继承而来）。 3．在同一平面内振动，故可发生干涉。 三、影响干涉的因素（单色光） （一）光程差 1．R＝2n×λ/2＝nλ（半波长的偶数倍） K1＇和K2＇相互抵消，视域变黑暗。 2．R＝（2n＋1） λ /2 ，K1＇比K2＇快半个波长，从而在发生干涉时，