第五章 X射线衍射方法-10.7.ppt

第五章 X射线衍射方法 4. 衍射花样的测量和计算 主要是通过测量底片上衍射线条的相对位置计算?角 若?用角度表示 　对于背反射区（2?90?），有2L?＝R·4?（?为弧度）。 若?用角度表示，则有 式中，?＝90?－?。 当相机直径2R＝57.3mm时，由上述二式有 应用上述各式计算?时，?值受相机半径误差和底片收缩误差等的影响。 　 6. 衍射花样指数标定 立方系不同结构类型晶体因系统消光规律不同，其产生衍射各晶面的m顺序比也各不相同。 立方晶系衍射晶面及其干涉指数平方和(m) 常用粉末衍射仪主要由X射线发生系统、测角及探测控制系统、记数据处理系统三大部分组成 。核心部件是测角仪。 2. 辐射探测器 衍射仪的X射线探测器为计数管。它是根据X射线光子的计数来探测衍射线的强度。它与检测记录装置一起代替了照相法中底片的作用。其主要作用是将X射线信号变成电信号。 探测器的种类：用气体的正比计数器和盖革计数器和固体的闪烁计数器和硅探测器。 　　闪烁计数器与正比计数器是目前使用最为普遍的计数器。 要求定量关系较为准确的情况下习惯使用正比计数器，盖革计数器的使用已逐渐减少。 4. 计数测量方法与测量参数选择 5. 衍射数据的测量 衍射花样千变万化，3个基本要素： ① 衍射线的峰位 ② 线形 ③ 强度 1）衍射峰2θ角的确定方法 a) 峰顶法 b) 切线法 c) 半高宽中点法 d) 7/8高度法 e) 中点连线法 2）衍射强度的测量 绝对强度：由定标器所测得的计数率，单位为cps，即每秒多少个计数。 相对强度：以最强峰的强度作为100，然后与其他各个衍射峰进行对比计算。 衍射峰强度的测量方法有各种不同方法： 在样品制备过程中，应当注意： 1）在制样过程中，由于粉末样品需要制成平板状，因此需要避免颗粒发生定向排列，存在取向，从而影响实验结果。 2）在加工过程中，应防止由于外加物理或化学因素而影响试样其原有的性质。 衍射仪法基本分析项目 物相定性、定量分析 点阵常数测定 应力测定 晶粒度测定 织构测定 衍射仪法与Debey法的对比 第二节 单晶体衍射方法 单晶体X射线衍射分析的基本方法为劳埃（Laue）法与周转晶体法。 1. 劳厄法： Laue 连续x-ray投射到固定的单晶体试样上产生衍射的一种实验方法，x-ray具有较高的强度，可在较短的时间得到清晰的衍射花样（λ变） 垂直于入射线束的照相底片记录花样。 衍射花样由衍射斑点组成，有规律分布。 2. 转晶法： (Rotation Method) 单色x-ray（K系）照射转动的单晶体试样的衍射方法。（θ变） 以样品转动轴为轴的圆环形底片记录衍射花样。 此法用于测定试样的晶胞常数，根据衍射花样能准确测定晶体的衍射方向和强度。 　 采用单色X射线束照射转动着的单晶，由晶体产生的衍射线束在照相底片上形成分立的衍射斑点，构成转晶相机。 A、峰高强度：以减去背景后的峰顶高度代表整个衍射峰的强度。 具体的做法：在两个峰脚之间作一条直线，从它以上的峰高作为衍射峰的强度。 优点：简便；缺点：所测得的峰高，受实验条件的影响相当大。 在一般的物相定性分析工作中，多采用峰高强度。 B、积分强度：也称累积强度。它是以整个衍射峰在背景线以上部分的面积作为峰的强度。 优点：尽管峰的高度和形状可随实验条件的不同而变化，但峰的面积却比较稳定。因此，在诸如物相定量分析等要求强度尽可能精确的情况下，都采用积分强度。 6. 样品的制备 1、制备样品的方法 　与照相法的粉末试样制备一样，试样中晶体微粒的线性大小以在10-3mm数量级为宜，对无机非金属样品，可以将它们放在玛瑙研钵中研细至用手指搓摸无颗粒感时即可。金属或合金试样用锉刀挫成粉末。所需的样品量比照相法要多，大约在0.5-1克左右。 6. 样品的制备 特殊试样的制备方法： 当样品很少时，可将粉末和胶调匀徐在平玻片上制成。 对一些多晶质的固体样品，如果其中的晶粒足够细， 也可不必研磨成粉末。只要切磨出一个平整的面， 且样品的大小合适即可。如一些金属块、陶瓷片。 被测试样制备良好，才能获得正确良好的衍射信息。 对于粉末样品，通常要求其颗粒平均粒径控制在5μm左右， 亦即通过320目的筛子，而且在加工过程中，应防止由于外加物理 或化学因素而影响试样其原有的性质。 实验室衍射仪常用的粉末样品形状为平板形。其支承粉末制品的支架有两种，即透过试样板和不透孔试样板，如图所示。 粉末物质制样示意图 当样品面高于样品板平面时，实测的θ角会偏大，计算所得的d值将偏小； 当样品面低于样品板平面时，实测的θ角会偏小， 计算所得的d值将偏大。 7.实