利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度＊.PDF

维普资讯 第 54卷 第 1期 2005年 1月 物 理 学 报 Vo1．54，No．1，January，2005 1000，3290／2005／54(01)／0202．04 ACTAPHYSICA SINICA @2005Chin．Phys．Soc． 利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度* 王 琛D 王 伟D 孙今人D 方智恒¨吴 江” 傅思祖 马伟新 顾 援 王世绩 张国平 郑无敌 张覃鑫 彭惠民 邵 平 易 葵 林尊琪 王占山’王洪昌’周 斌 陈玲燕’金春水’ ”(上海激光等离子体研究所，上海 800．229信箱，上海 201800) (北京应用物理与计算数学研究所，北京8009信箱，北京 100088) (上海光学精密机械研究所，上海 800-211信箱，上海 201800) ’(上海市同济大学物理系，上海 200092) (长春光学精密机械研究所应光室，长春 130022) (2004年3月 4日收到；2004年5月 15日收到修改稿) x 射线激光探针干涉方法是诊断高温高密度激光等离子体电子密度等信息的重要工具．利用神光 Ⅱ装置输出 激光驱动的类镍．银x射线激光作为探针，成功地进行了马赫．曾德尔干涉法诊断实验，获得了清晰的包含等离子体 信息的动态干涉条纹图像，并据此给出了待测C。H。等离子体临界面附近电子密度的空间分布． 关键词：等离子体电子密度诊断，x射线激光，马赫．曾德尔干涉仪 PACC：5270，4255V，5270L 如相干性、均匀性，以及强度等的要求也很高． 1．引 言 目前，已进行过一些干涉法诊断等离子体的实 验演示，包括利用多层膜半透半反镜分束的马赫．曾 由于x射线激光波长短、脉冲短、亮度高而又具 德尔(Mach．Zehnder，M．Z)干涉法 J、利用掠入射光栅 有良好相干性的独特优点，使得 x射线激光探针方 分束的M．z干涉法 ]、劳埃德 (Lloyd)镜干涉法 、 法成为诊断高温高密度激光等离子体的一种重要手 菲涅耳双镜干涉法¨。等．这些实验初步演示了这种 段．这种诊断，一方面可以提供相关的等离子体信 应用的可能． 息，更重要的是可以用来校验相应的程序，对激光惯 本文描述了我们在采用x射线激光探针干涉诊 性约束聚变 (ICF)等研究具有重要意义．因此 ，从 X 断等离子体电子密度方面取得的进展．利用类镍．银 射线激光演示成功以来…，就持续不断地进行着此 x 射线激光作为探针，采用多层膜半透半反镜分束 类诊断应用的研究 ． 的M．z干涉方案，诊断了激光辐照 c。}{8平面靶产 一 般来说，激光作为探针穿越等离子体，光束的 生的等离子体 ，获得了反映等离子体电子密度信息 强度、前进方向、光程都会发生变化．采用阴影法 、 的清晰的干涉条纹图像，实验给出的电子密度数值 偏折法b 和干涉法 ，分别检测探针光束强度、 已经非常接近于驱动激光对应的临界密度 ． 方向和光程的变化，就可以获得等离子体电子密度 的相关信息．其中，只有干涉法能够直接得到等离子 2．实验方案 体电子密度的分布情况，因此是最有意义的方法．但 是，x射线激光作干涉法实施的难度很高：一方面， 实验在神光 Ⅱ激光装置上进行 ，实验排布示意 相应的光学元件，特别是用于x射线激光分束的元 如图1．利用装置南北两路预．主脉冲基频激光 (波 件难以制作；另一方面，对 x射线激光的光